[发明专利]芯片同步测试方法、芯片、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯片同步测试方法，其特征在于，应用于主芯片，所述方法包括：

接收从芯片发送的第一测试运行请求，所述第一测试运行请求包括第一测试点的编号；

根据所述第一测试运行请求向所述从芯片发送第一测试运行响应，所述第一测试运行响应用于指示所述从芯片开始执行所述第一测试点对应的第一测试用例；

在接收到所述从芯片发送的第一测试启动通知后，执行与所述第一测试用例对应的第二测试用例，以使主芯片与所述从芯片同步进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述执行与所述第一测试用例对应的第二测试用例之后，还包括：

向所述从芯片发送空闲指示信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述向所述从芯片发送空闲指示信息之后，所述方法还包括：

接收所述从芯片发送的第二测试运行请求，所述第二测试运行请求包括第二测试点的编号；

根据所述第二测试运行请求向所述从芯片发送第二测试运行响应，所述第二测试运行响应用于指示所述从芯片开始执行所述第二测试点对应的第三测试用例；

在接收到所述从芯片发送的第二测试启动通知后，执行与所述第三测试用例对应的第四测试用例。

4.一种芯片同步测试方法，其特征在于，应用于从芯片，所述方法包括：

向主芯片发送第一测试运行请求，所述第一测试运行请求包括第一测试点的编号；

接收所述主芯片发送的第一测试运行响应；

向所述主芯片发送第一测试启动通知，并执行所述第一测试点对应的第一测试用例；所述第一测试启动通知用于指示所述主芯片开始执行与所述第一测试用例对应的第二测试用例，以使所述主芯片与从芯片同步进行测试。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述向主芯片发送第一测试运行请求之前，还包括：

接收所述主芯片发送的空闲指示信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述接收所述主芯片发送的空闲指示信息之后，还包括：

向所述主芯片发送第二测试运行请求，所述第二测试运行请求包括第二测试点的编号；

接收所述主芯片发送的第二测试运行响应；

向所述主芯片发送第二测试启动通知，并执行所述第二测试点对应的第三测试用例；所述第二测试启动通知用于指示所述主芯片开始执行与所述第三测试用例对应的第四测试用例。

7.一种芯片，其特征在于，包括：

存储器；

处理器；以及

计算机程序；

其中，所述计算机程序存储在所述存储器中，并被配置为由所述处理器执行以实现如权利要求1~3任一项所述的方法。

8.一种芯片，其特征在于，包括：

存储器；

处理器；以及

计算机程序；

其中，所述计算机程序存储在所述存储器中，并被配置为由所述处理器执行以实现如权利要求4~6任一项所述的方法。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：电路板，设置在所述电路板上的主芯片和至少一个从芯片，所述主芯片与每一个所述从芯片连接，其中，

所述主芯片执行如权利要求1~3任一项所述的方法，所述从芯片执行如权利要求4~6任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行以实现如权利要求1~3任一项或权利要求4~6任一项所述的方法。