[发明专利]一种测试装置和测试设备

权利要求书

1.一种测试装置，其特征在于，包括上位机、本体测试模块和扩展测试模块，所述上位机与所述本体测试模块通信连接，所述本体测试模块与所述扩展测试模块通信连接；

其中，所述本体测试模块用于在接收到所述上位机的测试指令时，输出多路第一测试信号；所述扩展测试模块用于在接收到所述本体测试模块的测试指令时，输出至少一路第二测试信号；

所述上位机的测试指令为系统级测试指令时，所述本体测试模块用于输出所述多路第一测试信号，并向所述扩展测试模块发送所述系统级测试指令；所述扩展测试模块用于解码所述系统级测试指令，并选择对应的系统级测试协议控制所述至少一路第二测试信号的输出；

所述上位机的测试指令为图案测试指令时，所述本体测试模块用于输出所述多路第一测试信号；

所述本体测试模块包括第一处理器和第一引脚控制单元，所述第一引脚控制单元与所述第一处理器电连接，所述第一引脚控制单元用于根据所述第一处理器的控制信号输出所述多路第一测试信号；

所述本体测试模块还包括第三处理器和电源控制芯片；所述电源控制芯片和所述第三处理器电连接，所述第三处理器和所述第一处理器通过Serdes通信连接；所述第三处理器用于在接收到所述上位机发送的供电指令时，向所述电源控制芯片发送电源控制信号；所述电源控制芯片用于基于所述电源控制信号输出多路电源信号；

所述本体测试模块还包括第一监控单元，所述第一监控单元与所述第一引脚控制单元、所述电源控制芯片以及所述第三处理器电连接，用于监控所述第一引脚控制单元和所述电源控制芯片输出的信号并发送至所述第三处理器进行校准。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述扩展测试模块包括第二处理器和第二引脚控制单元，所述第二引脚控制单元与所述第二处理器电连接，所述第二引脚控制单元用于根据所述第二处理器的控制信号输出所述至少一路第二测试信号；

所述第一处理器和所述第二处理器通过Serdes通信连接。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第二处理器包括指令解码单元、至少两个协议产生单元和选择器；

所述指令解码单元输入端与所述第一处理器通过Serdes通信连接，所述指令解码单元输出端与所述选择器的第一输入端连接，所述选择器的第二输入端与所述协议产生单元连接，所述选择器的输出端与所述第二引脚控制单元连接；所述指令解码单元用于接收所述第一处理器发送的系统级测试指令，对所述系统级测试指令进行解码，并将解码后的系统级测试指令传输给所述选择器，所述选择器用于根据所述解码后的系统级测试指令，选择对应的协议产生单元产生系统级测试协议。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述扩展测试模块还包括第二监控单元；

所述第二监控单元与所述第二引脚控制单元以及所述第二处理器电连接，用于监控所述第二引脚控制单元输出的信号并发送至所述第二处理器进行校准。

5.根据权利要求1-4任一项所述的测试装置，其特征在于，所述多路第一测试信号包括多路公共测试信号和至少一路图案测试信号；所述测试装置还包括多路选择模块，所述多路选择模块包括用于连通所述至少一路图案测试信号的第一通道，以及用于连通所述至少一路第二测试信号的第二通道；所述多路选择模块用于在所述上位机的测试指令为图案测试指令时选通所述第一通道，在所述上位机的测试指令为系统级测试指令时选通所述第二通道。

6.一种测试设备，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的测试装置；

所述测试设备包括电源板、背板、数字板卡和转接基板；所述数字板卡包括本体测试模块，所述转接基板包括扩展测试模块；所述电源板与所述背板连接，上位机通过所述背板与所述数字板卡连接，所述数字板卡与所述转接基板连接；

所述电源板用于输出直流电压，所述背板用于将所述直流电压转接至所述数字板卡，所述数字板卡用于输出多路第一测试信号，所述转接基板用于输出至少一路第二测试信号并转接所述多路第一测试信号。