[发明专利]用于显示装置外围线路区匹配缺陷点与线路编号的方法有效
| 申请号: | 201910070897.8 | 申请日: | 2019-01-25 |
| 公开(公告)号: | CN109870466B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
| 发明(设计)人: | 叶新荣 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
| 地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 显示装置 外围 线路 匹配 缺陷 编号 方法 | ||
一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法,所述方法包含:根据一物件上的一线路配置,形成多个检测区块;通过AOI检测技术检测所述物件,并且输出一检测结果,其中所检测结果包含所述缺陷点的一座标位置;确定所述缺陷点所对应的所述检测区块;及通过一平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法。
背景技术
随着显示技术的不断进步,显示装置的显示面积越来越大,并且外围电性连接线路(以下称为线路)的数量也随之越来越多。现在通过自动光学检测(Automatic OpticInspection,AOI)技术来大量并且快速地检测显示装置的外围线路缺陷。而如图1所示,为了配合显示装置的显示区110的面积并且尽量缩小对外连接的电性接点区123所占用的面积,外围线路会在特定区块121转折。
虽然通过AOI检测技术可以获得缺陷点的座标位置,但是线路经过转折,缺陷点的座标位置无法直接与后续的电测装置及点灯机台通过实际检验所找出异常线路的编号进行匹配。如此一来,使得显示装置外围线路缺陷点的检测时间大幅增加。
故,有必要提供一种用于显示装置外围线路区匹配缺陷点与线路编号的方法,以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种于显示装置外围线路区匹配缺陷点与线路编号的方法,使得来自AOI检测技术的缺陷点的座标位置可以与线路编号直接匹配。这样一来,AOI检测技术的检测结果可以与电测装置和/或点灯机台的检测检果相互验证,提高线路缺陷的检测效率。
为达成本发明的前述目的,本发明提供一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法,所述方法包含:
根据一物件上的一线路配置,形成多个检测区块;
通过AOI检测技术检测所述物件,并且输出一检测结果,其中所检测结果包含所述缺陷点的一座标位置;
确定所述缺陷点所对应的所述检测区块;及
通过一平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号。
根据本发明一实施例,根据一物件上的一线路配置,形成多个检测区块,包括:
定义所述多个检测区块中的至少一个为一关键区块,所述关键区块呈三角形;及
定义所述关键区块的一第一顶点、一第二顶点及一第三顶点各自的一座标位置。
根据本发明一实施例,确定所述缺陷点所对应的所述检测区块,包括:
利用向量面积法获得所述关键区块的面积;
利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第一顶点及所述第二顶点所构成的一第一面积;
利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第二顶点及所述第三顶点所构成的一第二面积;
利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第三顶点及所述第一顶点所构成的一第三面积;
当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积等于所述关键区块的面积时,确定所述缺陷点位于所述关键区块内;及
当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积大于所述选定区块的面积时,确定所述缺陷点位于所述关键区块外。
根据本发明一实施例,所述关键区块还包括一底边、一第一腰边、一第二腰边及N个编号线路,所述N个编号线路平行于所述第一腰边,所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会,并且通过所述平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号包括:
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