[发明专利]用于显示装置外围线路区匹配缺陷点与线路编号的方法有效

专利信息
申请号: 201910070897.8 申请日: 2019-01-25
公开(公告)号: CN109870466B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 叶新荣 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 显示装置 外围 线路 匹配 缺陷 编号 方法
【权利要求书】:

1.一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法,其特征在于,所述方法包含:

根据一物件上的一线路配置,形成多个检测区块,包括:

定义所述多个检测区块中的至少一个为一关键区块,所述关键区块呈三角形,所述关键区块还包括一底边、一第一腰边、一第二腰边及N个编号线路,所述N个编号线路平行于所述第一腰边,所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会;及

定义所述关键区块的一第一顶点、一第二顶点及一第三顶点各自的一坐标位置;

通过自动光学检测(AOI)检测所述物件,并且输出一检测结果,其中所检测结果包含所述缺陷点的一坐标位置;

确定所述缺陷点所对应的所述检测区块,包括:

利用向量面积法获得所述关键区块的面积;

利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第一顶点及所述第二顶点所构成的一第一面积;

利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第二顶点及所述第三顶点所构成的一第二面积;

利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第三顶点及所述第一顶点所构成的一第三面积;

当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积等于所述关键区块的面积时,确定所述缺陷点位于所述关键区块内;及

当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积大于所述关键区块的面积时,确定所述缺陷点位于所述关键区块外;及

通过一平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号,包括:

当所述缺陷点位于所述关键区块内,所述缺陷点所在的一第n线路与所述底边交会将所述底边分为一第一区段及一第二区段,通过所述第一区段与所述第二区段的长度比等于所述第n线路到第0线路与第N线路到第n线路的长度比,进而计算出所述第n线路的n值。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会,并且通过所述平行线法计算所述缺陷点所对应的所述线路编号包括:

当所述缺陷点位于所述关键区块内,所述缺陷点所在的一第n线路与所述第二腰边交会将所述第二腰边分为一第三区段及一第四区段,通过所述第三区段与所述第四区段的长度比等于所述第n线路到第0线路与第N线路到第n线路的长度比,进而计算出所述第n线路的n值。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:根据所述线路配置来定义所述第一顶点、所述第二顶点及所述第三顶点各自的所述坐标位置。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述坐标位置包括一X轴位置及一Y轴位置。

5.一种用于显示装置外围线路区匹配一缺陷点与一线路编号的方法,其特征在于,所述方法包含:

根据一物件上的一线路配置,形成呈三角形的一关键区块,所述关键区块还包括一底边、一第一腰边、一第二腰边;

定义所述关键区块的一第一顶点、一第二顶点及一第三顶点各自的一坐标位置;

通过自动光学检测(AOI)检测所述物件的N个编号线路,并且输出一检测结果,其中所检测结果包含所述缺陷点的一坐标位置,所述N个编号线路平行于所述第一腰边,所述N个编号线路分别地与所述底边及所述第二腰边交会;

确定所述缺陷点是否位于所述关键区块内,包括:

利用向量面积法获得所述关键区块的面积;

利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第一顶点及所述第二顶点所构成的一第一面积;

利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第二顶点及所述第三顶点所构成的一第二面积;

利用向量面积法获得所述缺陷点、所述第三顶点及所述第一顶点所构成的一第三面积;

当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积等于所述关键区块的面积时,确定所述缺陷点位于所述关键区块内;及

当所述第一面积、所述第二面积及所述第三面积大于所述关键区块的面积时,确定所述缺陷点位于所述关键区块外;及

当所述缺陷点位于所述关键区块内时,通过平行线法计算所述缺陷点所对应的一第n线路的n值,包括:

所述缺陷点所在的所述第n线路与所述底边交会将所述底边分为一第一区段及一第二区段,通过所述第一区段与所述第二区段的长度比等于所述第n线路到第0线路与第N线路到第n线路的长度比,进而计算出所述第n线路的n值。

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