[发明专利]发光二极管芯片的检验方法和装置

权利要求书

1.一种发光二极管芯片的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：

获取多个电极图像，

确定各个所述电极图像之间的相似度，

基于各个所述电极图像之间的相似度，形成至少一个电极图像集合；

所述基于各个所述电极图像之间的相似度，形成所述至少一个电极图像集合，包括：

将各个所述电极图像分别作为一个所述电极图像集合，

当两个所述电极图像集合之间的相似度达到第一设定阈值时，将两个所述电极图像集合合并，直到所有所述电极图像集合两两之间的相似度均小于第一设定阈值，两个所述电极图像集合之间的相似度，为两个所述电极图像集合中各个所述电极图像之间的相似度的最小值；

获取待检测芯片的图像；

采用边缘检测模型处理所述待检测芯片的图像，从所述待检测芯片的图像中截取电极部分的图像；

确定所述电极部分的图像的形状特征、面积特征和纹理特征；以及所述电极图像集合中各个所述电极图像的形状特征、面积特征和纹理特征；

基于所述电极部分的图像的形状特征和所述电极图像的形状特征；计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间在形状上的相似度；

基于所述电极部分的图像的面积特征和所述电极图像的面积特征；计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间在面积上的相似度；

基于所述电极部分的图像的纹理特征和所述电极图像的纹理特征；计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间在纹理上的相似度；

采用如下公式计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间的相似度f：

f=a*x+b*y+c*z；

其中，a、b、c均为常数，x为所述电极部分的图像与所述电极图像之间在形状上的相似度，y为所述电极部分的图像与所述电极图像之间在面积上的相似度，z为所述电极部分的图像与所述电极图像之间在纹理上的相似度，如果主要根据面积判定缺陷类型，则a＜b，b＞c；又如，如果形状和面积对缺陷类型的影响都很大，则a＞c，b＞c；

基于计算出的相似度，确定所述电极部分的图像与所述电极图像集合之间的相似度；

每个所述电极图像集合包括至少一个电极图像，同一个所述电极图像集合中的各个所述电极图像之间的相似度均达到第一设定阈值；

当所述电极部分的图像与所述电极图像集合之间的相似度达到所述第一设定阈值时，将所述电极部分的图像合并到所述电极图像集合中，

当所述电极部分的图像与第一电极图像集合之间的相似度达到第二设定阈值，所述第二设定阈值小于所述第一设定阈值，且所述电极部分的图像与第二电极图像集合之间的相似度小于所述第二设定阈值时，将所述电极部分的图像合并到所述第一电极图像集合中，所述第一电极图像集合为所述至少一个电极图像集合中的任意一个，所述第二电极图像集合为所述至少一个电极图像集合中除所述第一电极图像集合之外的所有电极图像集合。

2.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述基于计算出的相似度，确定所述电极部分的图像与所述电极图像集合之间的相似度，包括：

计算所述电极部分的图像与所述电极图像集合中各个所述电极图像之间的相似度的平均值，作为所述电极部分的图像与所述电极图像集合之间的相似度。

3.一种发光二极管芯片的检验装置，其特征在于，所述检验装置包括：

电极图像获取模块，用于获取多个电极图像；

第二确定模块，用于确定各个所述电极图像之间的相似度；

第二合并模块，用于基于各个所述电极图像之间的相似度，形成至少一个电极图像集合；

所述基于各个所述电极图像之间的相似度，形成所述至少一个电极图像集合，包括：

将各个所述电极图像分别作为一个所述电极图像集合，

当两个所述电极图像集合之间的相似度达到第一设定阈值时，将两个所述电极图像集合合并，直到所有所述电极图像集合两两之间的相似度均小于第一设定阈值，两个所述电极图像集合之间的相似度，为两个所述电极图像集合中各个所述电极图像之间的相似度的最小值；

芯片图像获取模块，用于获取待检测芯片的图像；

截取模块，用于采用边缘检测模型处理所述待检测芯片的图像，从所述待检测芯片的图像中截取电极部分的图像；

第一确定模块，

确定所述电极部分的图像的形状特征、面积特征和纹理特征；以及所述电极图像集合中各个所述电极图像的形状特征、面积特征和纹理特征；

基于所述电极部分的图像的形状特征和所述电极图像的形状特征；计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间在形状上的相似度；

基于所述电极部分的图像的面积特征和所述电极图像的面积特征；计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间在面积上的相似度；

基于所述电极部分的图像的纹理特征和所述电极图像的纹理特征；计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间在纹理上的相似度；

采用如下公式计算所述电极部分的图像与所述电极图像之间的相似度f：

f=a*x+b*y+c*z；

其中，a、b、c均为常数，x为所述电极部分的图像与所述电极图像之间在形状上的相似度，y为所述电极部分的图像与所述电极图像之间在面积上的相似度，z为所述电极部分的图像与所述电极图像之间在纹理上的相似度，如果主要根据面积判定缺陷类型，则a＜b，b＞c；如果形状和面积对缺陷类型的影响都很大，则a＞c，b＞c；

基于计算出的相似度，确定所述电极部分的图像与所述电极图像集合之间的相似度，每个所述电极图像集合包括至少一个电极图像，同一个所述电极图像集合中的各个所述电极图像之间的相似度均达到第一设定阈值；

第一合并模块，用于当所述电极部分的图像与第一电极图像集合之间的相似度达到第二设定阈值，所述第二设定阈值小于所述第一设定阈值，且所述电极部分的图像与第二电极图像集合之间的相似度小于所述第二设定阈值时，将所述电极部分的图像合并到所述第一电极图像集合中，所述第一电极图像集合为所述至少一个电极图像集合中的任意一个，所述第二电极图像集合为所述至少一个电极图像集合中除所述第一电极图像集合之外的所有电极图像集合。