[发明专利]基于点扩散函数估计的相位校正方法及装置

说明书

本申请提出了一种基于点扩散函数估计的相位校正方法及装置，涉及三维测量技术领域，据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，并根据目标像素点与相邻像素点的目标相位差，以及初始点扩散函数，得到在多个频率下的第二调制曲线，进而根据第二调制曲线与第一调制曲线的差异，调整初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数，从而利用更新点扩散函数，校正目标像素点的相位，相比于现有技术，本申请所提供的一种基于点扩散函数估计的相位校正方法及装置，能够对错误的相位进行校正，减少图像中目标像素点的相位误差，从而提高三维重建的精度。

技术领域

本申请涉及三维测量技术领域，具体而言，涉及一种基于点扩散函数估计的相位校正方法及装置。

背景技术

结构光(Structured light，SLI)作为非接触式三维测量技术已经扩展到生物识别、医疗、和制造等科技及工业领域。其中，相位测量轮廓术(phase measuringprofilometry，PMP)是其中一条重要的分支，它利用一个由投影和成像系统组成的相对简单的结构，为三维测量提供了更快速便捷的操作以及更高的测量精度。

发明内容

本申请的目的在于提供一种基于点扩散函数估计的相位校正方法及装置，能够对错误的相位进行校正，减少图像中目标像素点的相位误差，从而提高三维重建的精度。

为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种基于点扩散函数估计的相位校正方法，所述方法包括：

根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，所述第一调制曲线表征所述目标像素点在所述多个频率下光强调制值的变化情况；

计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差；

根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线；

根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数；

根据所述更新点扩散函数，校正所述目标像素点的相位。

第二方面，本申请实施例提供了一种基于点扩散函数估计的相位校正装置，所述装置包括：

拟合模块，用于根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，所述第一调制曲线表征所述目标像素点在所述多个频率下光强调制值的变化情况；

计算模块，用于计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差；

所述拟合模块还用于，根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线；

所述计算模块还用于，根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数；

所述计算模块还用于，根据所述更新点扩散函数，校正所述目标像素点的相位。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器，用于存储一个或多个程序；处理器。当所述一个或多个程序被所述处理器执行时，实现上述的基于点扩散函数估计的相位校正方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的基于点扩散函数估计的相位校正方法。