[发明专利]基于点扩散函数估计的相位校正方法及装置

权利要求书

1.一种基于点扩散函数估计的相位校正方法，其特征在于，所述方法包括：

根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，所述第一调制曲线表征所述目标像素点在所述多个频率下光强调制值的变化情况；

计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差；

根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线；

根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数；

根据所述更新点扩散函数，校正所述目标像素点的相位。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，包括：

获取图像中所述目标像素点在多个频率下的光强调制值，其中，所述多个频率下的光强调制值中包括基频光强调制值，所述基频光强调制值为所述目标像素点在基频下的光强调制值；

计算所述基频光强调制值与所述多个频率下的光强调制值中的每一光强调制值的比值，得到多个第一光强调制比率；

将所述多个第一光强调制比率进行拟合，得到所述第一调制曲线。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线的步骤，包括：

根据所述目标相位差以及所述初始点扩散函数，得到所述多个频率下的多个第二光强调制比率；

将所述多个第二光强调制比率进行拟合，得到所述第二调制曲线。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差的步骤，包括：

获取所述目标像素点与沿扫描方向的后一像素点两者的相位差，作为第一相位差；

获取所述目标像素点与沿扫描方向的前一像素点两者的相位差，作为第二相位差；

根据所述第一相位差及所述第二相位差，得到所述目标相位差。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数的步骤，包括：

调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到所述更新点扩散函数，以使根据所述目标相位差及所述更新点扩散函数得到的新的第二调制曲线，与所述第一调制曲线的误差小于预设阈值。

6.一种基于点扩散函数估计的相位校正装置，其特征在于，所述装置包括：

拟合模块，用于根据图像中目标像素点在多个频率下的光强调制值，拟合得到第一调制曲线，其中，所述第一调制曲线表征所述目标像素点在所述多个频率下光强调制值的变化情况；

计算模块，用于计算所述目标像素点与相邻像素点的目标相位差；

所述拟合模块还用于，根据所述目标相位差以及初始点扩散函数，得到所述多个频率下的第二调制曲线；

所述计算模块还用于，根据所述第一调制曲线和所述第二调制曲线，调整所述初始点扩散函数的标准差参数，得到更新点扩散函数；

所述计算模块还用于，根据所述更新点扩散函数，校正所述目标像素点的相位。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述拟合模块具体用于：

获取图像中所述目标像素点在多个频率下的光强调制值，其中，所述多个频率下的光强调制值中包括基频光强调制值，所述基频光强调制值为所述目标像素点在基频下的光强调制值；

计算所述基频光强调制值与所述多个频率下的光强调制值中的每一光强调制值的比值，得到多个第一光强调制比率；

将所述多个第一光强调制比率进行拟合，得到所述第一调制曲线。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述拟合模块还具体用于：

根据所述目标相位差以及所述初始点扩散函数，得到所述多个频率下的多个第二光强调制比率；

将所述多个第二光强调制比率进行拟合，得到所述第二调制曲线。