[发明专利]光散射装置、颗粒物浓度测量系统和测量方法在审
申请号: | 201910061447.2 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN109655388A | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 敖小强;李永帅;陈景卫 | 申请(专利权)人: | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人: | 武玉琴;冷文燕 |
地址: | 102206 北京市昌*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通孔 吹扫气入口 光散射装置 进气口 密闭空间 连通 浓度测量系统 中空腔体 装置本体 出气口 窗口片 导流柱 颗粒物 测量 导流柱外壁 凹槽末端 出气口处 两侧设置 内部设置 气路形成 吹扫气 散射腔 测样 气幕 同侧 外壁 申请 污染 | ||
1.一种光散射装置,其特征在于,所述光散射装置包括装置本体和导流柱;
所述装置本体为一侧设置有吹扫气入口的中空腔体,所述导流柱设置在所述中空腔体中,并与所述中空腔体之间形成密闭空间,所述密闭空间与所述吹扫气入口连通;
所述导流柱的相对的两侧分别设置有进气口和出气口,其中,所述进气口与所述吹扫气入口位于同侧,所述导流柱内部设置有与所述进气口和所述出气口连通的散射腔体;
所述导流柱外壁上设置有凹槽,所述凹槽位于所述密闭空间中与所述吹扫气入口连通;所述凹槽上设置第一通孔,所述装置本体的外壁上与所述第一通孔相应的位置上设置第二通孔,所述第二通孔中设置有窗口片;在所述凹槽的末端靠近所述出气口处设置有第三通孔。
2.根据权利要求1所述的光散射装置,其特征在于,所述凹槽设置有三个,每个所述凹槽上均设置有第一通孔,三个所述第一通孔位于所述导流柱的同一圆周上,并且,所述第二通孔设置有三个,每个所述第二通孔均与所述第一通孔相对应。
3.根据权利要求1或2所述的光散射装置,其特征在于,所述第三通孔均位于所述的第一通孔的正下方。
4.根据权利要求1所述的光散射装置,其特征在于,所述中空腔体为圆柱状,所述装置本体为长方体,所述长方体的装置本体内部设置有所述圆柱状的中空腔体。
5.根据权利要求1所述的光散射装置,其特征在于,所述导流柱与所述装置本体的一端卡接。
6.根据权利要求1或5所述的光散射装置,其特征在于,所述导流柱包括直径依次增大的第一圆柱体、第二圆柱体和第三圆柱体,其中,所述第一圆柱体与所述装置本体的一端卡接,所述第二圆柱体与所述装置本体之间形成所述密闭空间。
7.一种颗粒物浓度测量系统,包括光源、光散射装置和检测装置,其特征在于,所述光散射装置为权利要求1-6任一所述的光散射装置;
所述光源与所述光散射装置上的一第二通孔连接;
所述检测装置与所述光散射装置上的一第二通孔连接。
8.根据权利要求7所述的颗粒物浓度测量系统,其特征在于,所述测量系统中还包括光阱装置,所述光阱装置与所述光散射装置上的一第二通孔连接。
9.一种根据权利要求7或8所述的测量系统进行的颗粒物浓度测量方法,其特征在于,所述测量方法包括步骤:
待测样气经由所述进气口送入所述散射腔体中;
吹扫气经由所述吹扫气入口通过所述密闭空间送入所述凹槽中;
启动所述光源装置,所述光源装置发射的光束经由所述第二通孔中的窗口片进入所述散射腔体中;
部分所述光束与所述待测样气中的颗粒物发生散射,得到散射后光束;
在上述的散射过程中,所述吹扫气在所述凹槽中形成吹扫气气路,用于隔离所述待测样气和所述窗口片,所述吹扫气在所述第三通孔处进入所述散射腔体中,并经由所述出气口排出;
所述散射后光束经由所述第二通孔中的窗口片进入所述检测装置中。
10.根据权利要求9所述的颗粒物浓度测量方法,其特征在于,所述测量方法还包括步骤:所述光源装置发射的光束进入所述散射腔体中后,所述光束中未发生散射的部分光束进入光阱装置中。
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