[发明专利]一种利用ICP法检测钨酸钙中钨含量的方法在审
申请号: | 201910053801.7 | 申请日: | 2019-01-21 |
公开(公告)号: | CN109709087A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 周春燕;加明;张敏 | 申请(专利权)人: | 成都虹波钼业有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73;G01N1/28 |
代理公司: | 苏州中合知识产权代理事务所(普通合伙) 32266 | 代理人: | 赵晓芳 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钨酸钙 待测样品溶液 校准曲线 标准液 检测 配制 过氧化氢 含量测定 检测数据 实验器材 完全溶解 浓盐酸 谱线 生产工艺 绘制 | ||
本发明公开了一种利用ICP法检测钨酸钙中钨含量的方法,包括:1)将待测钨酸钙样品用浓盐酸和过氧化氢完全溶解,配制钨酸钙的待测样品溶液,同时配制钨的质量体积浓度为0~0.1mg/mL的钨标准液;2)采用ICP法对钨标准液进行测定,以钨的质量浓度对谱线强度绘制钨的校准曲线;3)采用ICP法对进行测定,根据钨的校准曲线计算得到钨酸钙的待测样品溶液中钨的含量。该方法建立在现有实验器材的基础上,操作步骤简单,快捷,检测数据准确,符合生产工艺的要求,钨含量测定范围:40%~64%,适用于钨酸钙中钨含量的检测。
技术领域
本发明属于钨含量检测技术领域,涉及一种利用ICP法检测钨酸钙中钨含量的方法。
背景技术
钨酸钙,别名“人造白钨”,白色粉末,在X射线、电子束和紫外线激发下均是很有效的发光材料,是非常重要的化学原料。主要用于生产仲钨酸铵、三氧化钨、钨铁、合金钢、硬质合金、钨材、钨丝及钨合金等钨制品。
钨的测定可用重量法、比色法、X射线荧光光谱分析法等。其中,重量法检测步骤繁琐;X射线荧光光谱分析法则由于仪器价格昂贵,并不能被广泛应用,以比色法最常用。钨的比色法有二硫酚法、对苯二酚法、罗丹明B法和硫氰酸盐法等,前三种方法干扰元素较多,操作繁杂且实用意义不大。
硫氰酸盐法操作简便,干扰元素少,准确度及重现性均较好,是目前广泛采用的方法,例如,YS/T 555.8-2009钼精矿化学分析方法钨量的测定中公开了硫氰酸盐分光光度法;GB/T 14352.1-2010钨矿石、钼矿石化学分析方法第1部分钨量测定公开了碱熔硫氰酸比色法,然而,上述两种硫氰酸盐法中钨含量适应范围要求分别在0.02%~3.00%、0.02%~5.00%,钨酸钙中钨含量的范围达40%~64%,因此上述两种硫氰酸盐法不适用于钨酸钙中的钨的测定。除此之外,硫氰酸盐法需要加入多种试剂,步骤复杂,检测操作不简便且时间长。
发明内容
针对上述问题,本发明提供了一种利用ICP法检测钨酸钙中钨含量的方法,该方法建立在现有实验器材的基础上,操作步骤简单,快捷,检测数据准确,符合生产工艺的要求,钨含量测定范围:40%~64.0%,适用于钨酸钙中钨含量的检测。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案为:
一种利用ICP法检测钨酸钙中钨含量的方法,包括:
1)将待测钨酸钙样品用浓盐酸和过氧化氢完全溶解,配制钨酸钙的待测样品溶液,同时配制钨的质量体积浓度为0~0.1mg/mL的钨标准液;
2)采用ICP法对钨标准液进行测定,以钨的质量浓度对谱线强度绘制钨的校准曲线;
3)采用ICP法对待测样品进行测定,根据钨的校准曲线计算得到钨酸钙的待测样品溶液中钨的含量。
优选地,步骤1)中采用的过氧化氢为30%过氧化氢。
更优选地,步骤1)中浓盐酸和30%过氧化氢的体积比为1:1~1:2。
优选地,每0.1g待测钨酸钙样品加入5~10mL浓盐酸和5~10mL 30%过氧化氢。
优选地,步骤1)中采用以下方法配制钨的质量体积浓度为0~0.1mg/mL的钨标准液:
1-1)将三氧化钨置于反应容器中,加入氢氧化钠固体和超纯水加热溶解完全并冷却,定容,配制成5.00g/L钨标准贮存液;
1-2)将0.00mL、2.50mL、5.00mL、10.00mL 5.00g/L钨标准贮存液于500mL容量瓶中,用水稀释至刻度、摇匀。
更优选地,步骤1-1)中,称取1.2611g三氧化钨置于250mL烧杯中,加入5g氢氧化钠固体和50mL超纯水,加热溶解完全并冷却,转移至200mL的容量瓶中定容至刻度。
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