[发明专利]柱状元件外观检测设备

说明书

柱状元件外观检测设备包含供料装置、立料装置、旋转盘、多个取像装置、倒料装置及集料装置。供料装置具有下料轨道，以推送多个柱状元件。立料装置设置于下料轨道的末端，以使柱状元件呈站立姿态滑落。旋转盘承载并以磁力吸引由立料装置落下的柱状元件，以使柱状元件随旋转盘的旋转而沿环形输送路径移动。多个取像装置依序环绕旋转盘设置，以采集柱状元件各视角的影像进行外观检测。倒料装置设置于多个取像装置的最后一个的前端，以将柱状元件拨倒，使柱状元件由站立姿态改为平躺姿态。集料装置根据外观检测结果收集柱状元件。

技术领域

本发明涉及一种电子元件外观检测设备，特别涉及一种柱状元件外观检测设备。

背景技术

现有的电子元件外观检测设备，或称外观机，一般是通过震动盘将电子元件整列后，排列至一旋转盘上，旋转盘将电子元件输送至镜头前取像以供检测外观，再通过一集料装置依据检测结果分类收集。

晶圆电阻(Metal Electrode Leadless Face Resistor，简称MELF Resistor)，又可称为圆柱型电阻、无脚电阻、或无引线电阻，其外型呈圆柱状，且利用表面黏着技术(Surface Mount Technology，SMT)固定在电路板上。由于晶圆电阻具有耐高压、散热佳、抗震、及不易变形等特性，故被广泛应用在电源、通信、医疗、仪表、汽车、照明、工业自动化等领域。

而针对晶圆电阻此类柱状元件，在进行外观检测时主要利用具磁铁圆盘的外观机来运送柱状元件及进行检测，以使柱状元件的端面可通过磁力吸引而站立于磁铁圆盘上。图1即显示柱状元件利用传统外观机进行的外观检测示意图。如图1所示，由于柱状元件10是通过磁力吸引而站立于磁铁圆盘上，可针对柱状元件10的圆柱四周与顶部端面进行五面视觉取像检查，然而柱状元件10的底部端面因与磁铁圆盘磁吸接触，且磁铁圆盘并非采透明玻璃制成，故无法对底部端面进行第六面视觉取像检查。换言之，传统外观机对于柱状元件10的两端面只有进行二分之一的检查机会，无法达到全面检查机制。即使再依赖人工进行第六面检查，由于柱状元件10的尺寸可能小至1mm，亦有检查不易及疏漏的问题。

此现有技术对于柱状元件材料一直有无法全面检查的问题，对于出货厂商而言，会有一定比例的瑕疵产品流入市场，因而容易造成最终产品效能与稳定性降低的问题。因此，为了改善现有技术的缺陷，实有必要开发可进行全面检查的外观机架构，以强化外观机设备的竞争力，同时提升柱状元件材料的出货品质管控。

发明内容

本发明的目的在于提供一种柱状元件外观检测设备，以改善现有技术对于柱状元件只能进行五面视觉取像检查的缺陷。

本发明的另一个目的在于提供一种柱状元件外观检测设备，以实现柱状元件的全面检查，不但可强化外观机设备的竞争力，提升柱状元件的出货品质管控，也同时提升采用柱状元件的最终产品的效能与稳定性。

本发明的再一个目的在于提供一种柱状元件外观检测设备，以实现柱状元件的全面检查，不但可省去人力检查的成本，更增进外观检测设备的产能，进而提升外观检测设备的工业应用价值。

为达上述目的，本发明提供一种柱状元件外观检测设备，包含供料装置、立料装置、旋转盘、多个取像装置、倒料装置及集料装置。供料装置具有下料轨道，架构于推送多个柱状元件。立料装置设置于下料轨道的末端，架构于使柱状元件呈站立姿态滑落。旋转盘架构于承载并以磁力吸引由立料装置落下的柱状元件，以使柱状元件随旋转盘的旋转而沿环形输送路径移动。多个取像装置依序环绕旋转盘设置，并架构于采集柱状元件各视角的影像以进行外观检测。倒料装置设置于多个取像装置的最后一个的前端，架构于将柱状元件拨倒，使柱状元件由站立姿态改为平躺姿态。集料装置架构于根据外观检测结果收集柱状元件。

在一实施例中，柱状元件为可通过磁力吸引而站立的电子元件。

在一实施例中，倒料装置包含拨倒档板，设置于旋转盘的环形输送路径上，且拨倒档板与环形输送路径的切线方向呈垂直设置。