[发明专利]柱状元件外观检测设备

权利要求书

1.一种柱状元件外观检测设备，包含：

一供料装置，具有一下料轨道，架构于推送多个柱状元件；

一立料装置，设置于该下料轨道的末端，架构于使该柱状元件呈站立姿态滑落；

一旋转盘，架构于承载并以磁力吸引由该立料装置落下的该柱状元件，以使该柱状元件随该旋转盘的旋转而沿一环形输送路径移动；

多个取像装置，依序环绕该旋转盘设置，并架构于采集该柱状元件各视角的影像以进行外观检测，其中最后一个取像装置用于对该柱状元件的底部端面进行视觉取像检查；

一倒料装置，设置于多个所述取像装置的最后一个的前端，架构于将该柱状元件拨倒，使该柱状元件由站立姿态改为平躺姿态；其中该倒料装置包含一拨倒档板，设置于该旋转盘的该环形输送路径上，且该拨倒档板与该环形输送路径的切线方向呈垂直设置以及

一集料装置，架构于根据外观检测结果收集该柱状元件。

2.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该柱状元件为一可通过磁力吸引而站立的电子元件。

3.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该拨倒档板的底缘距离该旋转盘的表面的水平高度低于该柱状元件的总高度。

4.如权利要求3所述的柱状元件外观检测设备，其中该拨倒档板的底缘距离该旋转盘的表面的水平高度与该柱状元件的总高度比值在3/5～19/20之间。

5.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该倒料装置还包含一高度调整元件，架构于调整该拨倒档板的高度。

6.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该倒料装置还包含一支撑座，且该拨倒档板固定于该支撑座上。

7.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该多个取像装置包含一第一取像装置、一第二取像装置、一第三取像装置、一第四取像装置、一第五取像装置及一第六取像装置，且该倒料装置设置在该第五取像装置及该第六取像装置之间。

8.如权利要求7所述的柱状元件外观检测设备，其中该第一取像装置至该第五取像装置分别对该柱状元件的圆柱四周与顶部端面进行五面视觉取像检查，且该第六取像装置对该柱状元件的底部端面进行第六面视觉取像检查。

9.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该旋转盘为一具磁性且非透明的环形转盘。

10.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，其中该立料装置包含一弧形轨道，该弧形轨道的一第一端开口邻接该下料轨道的末端，且该弧形轨道的一第二端开口位于该旋转盘上。

11.如权利要求10所述的柱状元件外观检测设备，其中该第一端开口处的该弧形轨道的切线方向大致与该下料轨道平行，且该第二端开口处的该弧形轨道的切线方向大致与该旋转盘的表面垂直。

12.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，还包含一导料装置，其设置于该立料装置的下游，且具有一圆弧面。

13.如权利要求1所述的柱状元件外观检测设备，还包含一导料装置，其设置于该倒料装置的下游，且具有一圆弧面。