[发明专利]电压暂降的免疫时间检测方法

说明书

本申请涉及一种电压暂降的免疫时间检测方法，包括：解析电路，获取所述电路中的敏感设备；获取各所述敏感设备的免疫时间；根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。本申请中，基于敏感设备免疫时间得到电路的敏感过程的免疫时间，从而有效检测出电路的供电可靠性。

技术领域

本申请涉及供电测试技术领域，特别是涉及一种电压暂降的免疫时间检测方法。

背景技术

随着社会生产力的整体提升，供电可靠性等基本问题已达到较高水平，而保证高效生产的高度自动化生产过程对供电质量日益增长的需求已成为电力企业在新时代需要应对的一个主要矛盾，而电压暂降是各类导致用户经济损失的电能质量问题中贡献度最大的问题。改善电压质量的第一步，需要通过测试以及一定的评估手段了解到典型敏感设备或过程的电压暂降耐受能力。

现阶段在敏感设备测试方面已有一定的研究成果。华南理工大学欧阳森团队对脱扣器进行了测试，并绘制了设备的电压暂降耐受曲线(voltage tolerance curve,VTC)，分析了暂降幅值、持续时间、起始波形点以及相位跳变特征对设备免疫力的影响。华北电力大学肖湘宁与徐永海团队对可调速驱动(adjustable speed drive,ASD)、交流接触器等敏感设备进行了相关研究，并给出了一定的免疫力提升措施。华北电力大学吴亚盆团队对PLC的电压暂降耐受能力进行了测试。国外Milanovic团队同样对交流接触器、PC等多种敏感设备的暂降耐受能力进行了充分的研究。

部分研究者在研究中意识到某个生产过程中的典型敏感设备会互相影响，独立研究设备的耐受能力对整个生产过程的免疫力评估不够充分。《Experimentalinvestigation on the sensitivity of an industrial process to voltage dips[C].2015IEEE Eindhoven PowerTech.Eindhoven》搭建了一个由ACC、ASD与模拟负载的感应电机所构成的典型工业过程，并对所涉及的敏感设备与过程的耐受能力均进行了测试，得到了各自的VTC，证实了各设备间的相互影响，以及其过程耐受能力间的关系。

现有大量研究均通过测试得到的VTC对设备进行电压暂降耐受能力评估，而对于用户而言，基于网侧指标构建的电压耐受曲线不能直观准确的体现出实际生产过程遭受的影响，从而不利用进行薄弱环节甄别与经济损失评估。《Voltage dip immunity ofequipment and installations》中提出了免疫力概念，采用免疫时间(Immunity time,IT)来作为评估设备或过程电压暂降耐受能力的指标，并列举了一些典型工业过程对该指标的应用进行了说明。该指标以面向用户的工业过程参数作为判断标准，以时间来侧面评估免疫力，更利于从用户侧建立对暂降影响直观的认识。但该文并未提出具体的实现方法，对于具体的典型工业生产评估还需要进行进一步的落地研究。

发明内容

基于此，有必要提供一种能够电压暂降的免疫时间检测方法。

一种电压暂降的免疫时间检测方法，所述方法包括：

解析电路，获取所述电路中的敏感设备；

获取各所述敏感设备的免疫时间；

根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。

在其中一个实施例中，所述解析电路，获取所述电路中的敏感设备的步骤之前还包括：

建立敏感设备的测试电路；

为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形；

根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间。

在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：