[发明专利]电压暂降的免疫时间检测方法

权利要求书

1.一种电压暂降的免疫时间检测方法，其特征在于，所述方法包括：

解析电路，获取所述电路中的敏感设备；确定所述敏感设备在所述电路中的位置以及所述敏感设备的逻辑连接关系；所述敏感设备为在电压暂降时，产生耐受特性的设备，包括开关元件；

获取各所述敏感设备的免疫时间；

根据敏感设备的在所述电路中的逻辑连接结构、所述敏感设备的数字耦合特性，将所述电路划分为多个最小割集，以使同一所述最小割集内的多个环节具有所述数字耦合特性；所述数字耦合特性指的是当环节的关键参数越限时该环节的输出变化使得其它环节受到影响的特性，所述关键参数是根据该参数是否会对后续环节产生影响确定的；

获取所述电路中与所述敏感设备对应的多个最小割集；

获取各所述最小割集的免疫时间；所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤包括：获取所述最小割集中的相互并联的多个环节的免疫时间，以各所述环节的免疫时间的最大值作为所述最小割集的免疫时间；

根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间；所述根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：以相互串联的各所述最小割集的免疫时间的最小值作为所述电路的免疫时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述解析电路，获取所述电路中的敏感设备的步骤之前还包括：

建立敏感设备的测试电路；

为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形；

根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：

获取所述敏感设备的两端的电压波形的变化，检测所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现；

根据所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现的时间，获得所述暂降特征和所述平顶波的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形步骤包括：

为所述敏感设备提供扰动电源，通过示波器检测所述敏感设备的两端的电压波形。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述敏感设备还包括：ACC(接触器)和ASD(调试驱动)。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤为：

确定各所述最小割集中的敏感设备；

以所述敏感设备的免疫时间为所述最小割集的免疫时间。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述敏感设备包括电机，所述环节的关键参数包括所述电机的转速。

8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取各所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：

根据所述敏感设备的设备类型，获取与所述敏感设备的设备类型对应的免疫时间。