[发明专利]一种RFID读写器集成测试系统及方法有效
申请号: | 201910020112.6 | 申请日: | 2019-01-09 |
公开(公告)号: | CN109800608B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 王斌 | 申请(专利权)人: | 运鼎科技(北京)有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00 |
代理公司: | 北京天驰君泰律师事务所 11592 | 代理人: | 沈超 |
地址: | 100015 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 rfid 读写 集成 测试 系统 方法 | ||
本发明涉及一种RFID读写器集成测试系统及方法,所述系统包括:转换装置,包括至少一个A端接口及至少一个B端接口;测试设备,用于获取测试数据;以及上位机,其分别与读写器和测试设备相连接,按照测试流程控制读写器,并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和射频性能参数;其中,所述A端接口中的至少一个适于与所述读写器的至少一个天线端口连接;至少一个B端接口适于与所述测试设备的射频接口连接。本发明由上位机自动化地控制测试流程,不再由人工进行设备的连接,提高了生产效率。在数据处理时,设置足够多的测试点,并采用优化的算法,因而数测试数据可靠性高,且数据处理的速度快、准确率高。
技术领域
本发明涉及一种射频识别系统中的读写器,特别地涉及一种RFID读写器集成测试系统及方法。
背景技术
在射频识别系统中,RFID读写器是系统中的重要部件之一。RFID读写器在批量生产过程中需要对读写器进行射频校准以及射频性能测试验证。所谓“射频校准”一般包括对读写器中的射频电路的前向功率和反向功率进行校准。在校准工序完成后,通常还需要对读写器的射频性能参数进行测试验证。现有技术中的射频校准以及射频性能测试步骤繁琐,效率低下,难以满足实际的测试需要。
发明内容
针对现有技术中存在的技术问题,本发明提出了RFID读写器集成测试系统及方法,减少人工干预,提高测试效率及准确性。
为解决上述技术问题,根据本发明的一个方面,本发明提供了一种RFID读写器集成测试系统,包括:
转换装置,包括至少一个A端接口及至少一个B端接口;
测试设备,用于获取测试数据;以及
上位机,其分别与读写器和测试设备相连接,按照测试流程控制读写器,并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和射频性能参数;
其中,所述A端接口中的至少一个适于与所述读写器的至少一个天线端口连接;至少一个B端接口适于与所述测试设备的射频接口连接。
优选地,所述转换装置为射频功率分配器或射频功率合路器。
优选地,所述上位机包括:射频开关控制模块,用于向读写器发送射频开关接通或断开的指令;读写器发射功率控制模块,用于控制读写器的增益,使读写器在不同的功率档位发射载波信号;数据接收模块,用于从测试设备获得测试数据;计算处理模块,用于根据所述测试数据计算校准参数和/或射频性能参数;和写数据控制模块,用于将所述校准参数写入到所述读写器中。
优选地,所述上位机还包括:通讯模块,用于与远端服务器通讯,将计算处理模块得到的校准参数和/或射频性能参数发送到远端服务器。
为解决上述技术问题,根据本发明的另一个方面,本发明提供了一种RFID读写器集成测试方法,包括:
采用转换装置连接读写器和测试设备,用于建立读写器测试链路;
将上位机分别与读写器和测试设备相连接,用于建立数据通讯链路;以及上位机按照测试流程控制读写器,并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和验证射频性能参数;
其中,所述转换装置包括至少一个A端接口和至少一个B端接口;所述A端接口中的至少一个与所述读写器的至少一个天线端口连接;一个B端接口与所述测试设备的射频接口连接。
优选地,所述测试流程包括功率校准子流程和/或射频性能参数验证子流程。
优选地,所述功率校准子流程包括:
所述上位机控制所述读写器接通一个天线端口的测试链路;
所述上位机控制所述读写器在多个不同功率档位、通过所述天线端口发射载波信号;
接收来自于测试设备的多个对应不同功率档位载波信号的功率测试数据;以及
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