[发明专利]一种RFID读写器集成测试系统及方法

权利要求书

1.一种RFID读写器集成测试系统，其特征在于，包括：

转换装置，包括多个A端接口及至少一个B端接口，所述转换装置为射频功率分配器；

测试设备，用于获取测试数据；以及

上位机，其分别与读写器和测试设备相连接，按照测试流程控制读写器，并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和射频性能参数，其中所述上位机通过GPIB接口或串行通讯接口与所述测试设备连接；其中，所述射频功率分配器被反向使用，所述射频功率分配器的所述多个A端接口分别与所述读写器的多个天线端口连接，所述读写器通过所述多个天线端口发射载波信号，经对应的A端接口的信号通道传输，在B端接口输出；所述至少一个B端接口与所述测试设备的射频接口连接；

所述上位机包括：射频开关控制模块，用于向读写器发送射频开关接通或断开的指令以控制所述读写器与所述天线端口连接的射频开关的接通或断开，接通所述天线端口的测试链路，所述指令包括射频开关的标识，所述射频开关的标识与天线端口一一对应；

所述射频功率分配器一次性连接所述读写器的所有天线端口，在测试完一个天线端口时，通过所述射频开关控制模块对读写器中的射频天线开关的控制，所述读写器和所述测试设备能够自动通断，使得所有的天线端口自动完成测试。

2.根据权利要求1所述的RFID读写器集成测试系统，其特征在于，所述上位机包括：

读写器发射功率控制模块，用于控制读写器的发射放大增益，使读写器在不同的功率档位发射载波信号；

数据接收模块，用于从测试设备获得测试数据；

计算处理模块，用于根据所述测试数据计算校准参数和/或射频性能参数；以及

写数据控制模块，用于将所述校准参数写入到所述读写器中。

3.根据权利要求2所述的RFID读写器集成测试系统，其特征在于，所述上位机还包括通讯模块，用于与远端服务器通讯，将计算处理模块得到的校准参数和/或射频性能参数发送到远端服务器。

4.一种RFID读写器集成测试方法，其特征在于，包括：

采用转换装置连接读写器和测试设备，用于建立读写器测试链路；

将上位机分别与读写器和测试设备相连接，用于建立数据通讯链路，其中所述上位机通过GPIB接口或串行通讯接口与所述测试设备连接；以及

上位机按照测试流程控制读写器，并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和射频性能参数；

其中，所述转换装置包括多个A端接口和至少一个B端接口，所述转换装置为射频功率分配器；所述射频功率分配器被反向使用，所述射频功率分配器的所述多个A端接口分别与所述读写器的多个天线端口连接；所述读写器通过所述多个天线端口发射载波信号，经对应的A端接口的信号通道传输，在B端接口输出；所述至少一个B端接口与所述测试设备的射频接口连接；

所述上位机包括：射频开关控制模块，用于向读写器发送射频开关接通或断开的指令以控制所述读写器与所述天线端口连接的射频开关的接通或断开，接通所述天线端口的测试链路，所述指令包括射频开关的标识，所述射频开关的标识与天线端口一一对应；

所述射频功率分配器一次性连接所述读写器的所有天线端口，在测试完一个天线端口时，通过所述射频开关控制模块对读写器中的射频天线开关的控制，所述读写器和所述测试设备能够自动通断，使得所有的天线端口自动完成测试。

5.根据权利要求4所述的RFID读写器集成测试方法，其特征在于，所述测试流程包括功率校准子流程和/或射频性能参数验证子流程。

6.根据权利要求5所述的RFID读写器集成测试方法，其特征在于，所述功率校准子流程包括：

所述上位机控制所述读写器接通一个天线端口的测试链路；

所述上位机控制所述读写器在多个不同功率档位、通过所述天线端口发射载波信号；

接收来自于测试设备的对应不同功率档位载波信号的多个功率测试数据；以及

对所述多个功率测试数据进行线性拟合，将获得的线性拟合系数作为功率校准参数。