[发明专利]电子设备及电子设备控制方法

说明书

本申请提供一种电子设备，所述电子设备包括第一折叠部、第二折叠部和处理器，所述第一折叠部和所述第二折叠部可通过转轴相对转动，所述第一折叠部设置有测距单元。本申请实施例提供的电子设备有助于提高第一折叠部和第二折叠部之间的折叠角度的测量精度。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种电子设备及电子设备控制方法。

背景技术

目前，在相关技术中，电子设备是由屏幕部分和主机部分组成，屏幕镶嵌在保护盖内与主机部分连接。为保证显示屏的显示稳定性，传统的电子设备的屏幕部分和保护壳通常是硬质材料，这导致普通的电子设备的显示模式只有一种。但是，随着电子设备的多功能化，用户需求也随之增多，相关技术中的电子设备的显示模式较为单一，需要一种多样化显示的电子设备。于是，折叠屏手机应运而生。通过霍尔传感器检测磁场变化判断折叠屏手机的折叠角度，霍尔传感器检测折叠角度对电子设备的电磁，电路以及走线要求较高，并且此检测方式易受外界干扰。因此，急需一种新的测量折叠角度的方法。

发明内容

本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括第一折叠部、第二折叠部和处理器，所述第一折叠部和所述第二折叠部可通过转轴相对转动，所述第一折叠部设置有测距单元。

本申请实施例提供的电子设备包括第一折叠部、第二折叠部和处理器，所述第一折叠部和所述第二折叠部可通过转轴相对转动，所述第一折叠部设置有测距单元。通过测距单元发射探测信号的方式获取所述测距单元与所述探测信号到达所述第二折叠部的位置之间的探测距离，然后根据预设角度以及测距单元与转轴之间的距离就可以计算出所述第一折叠部和所述第二折叠部之间的折叠角度，且通过调整发射探测信号的次数，就可以提高测距精度，进而获取到较为准确的折叠角度，即可以提高折叠角度的测量精度。

本申请实施例还提供一种电子设备控制方法，所述电子设备包括第一折叠部、第二折叠部和处理器，所述第一折叠部和所述第二折叠部可通过转轴相对转动，所述第一折叠部设置有测距单元，所述测距单元以预设角度朝向所述第二折叠部发射探测信号，所述预设角度为所述探测信号与所述第一折叠部之间的角度，且所述探测信号垂直于所述转轴，其特征在于，所述电子设备控制方法包括：

获取测距单元与探测信号到达第二折叠部的位置之间的探测距离；

根据所述预设角度、所述探测距离以及所述测距单元与所述转轴之间的距离获取所述第一折叠部和所述第二折叠部之间的折叠角度，其中，所述预设角度为所述探测信号与所述第一折叠部之间的角度，且所述探测信号正交于所述转轴。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的第一种电子设备的结构示意图。

图2是本申请实施例提供的第一种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图3是本申请实施例提供的第二种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图4是本申请实施例提供的第三种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图5是本申请实施例提供的第四种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图6是本申请实施例提供的第五种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图7是本申请实施例提供的第六种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图8是本申请实施例提供的第七种电子设备的发射探测信号测距的示意图。

图9是本申请实施例提供的第二种电子设备的结构示意图。