[发明专利]电子设备及电子设备控制方法

权利要求书

1.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括第一折叠部、第二折叠部和处理器，所述第一折叠部和所述第二折叠部可通过转轴相对转动，所述第一折叠部设置有测距单元；

其中，所述测距单元包括第一子测距单元和第二子测距单元，所述第一子测距单元朝向所述第二折叠部发射第一子探测信号，所述第二子测距单元朝向所述第二折叠部发射第二子探测信号，其中，所述第一子探测信号与所述第一折叠部之间的角度为第一角度，所述第二子探测信号与所述第一折叠部之间的角度为第二角度，所述第一子探测信号及所述第二子探测信号均正交于所述转轴，且所述第一角度与所述第二角度不相等。

2.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述测距单元包括发射模块和接收模块，所述发射模块和所述接收模块之间的距离位于预设阈值范围内。

3.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述第一子测距单元与所述转轴之间的距离为第三距离，所述第二子测距单元与所述转轴之间的距离为第四距离，所述第三距离与所述第四距离不相等，所述第一子测距单元和所述第二子测距单元位于正交于所述转轴的同一平面内。

4.如权利要求3所述的电子设备，其特征在于，当所述第三距离小于所述第四距离，且所述第一角度大于所述第二角度时，所述第一子探测信号的传输频率为第一频率，所述第二子探测信号的传输频率为第二频率，所述第一频率与所述第二频率不相等。

5.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述第二折叠部设置有矫正测距单元，所述矫正测距单元到所述转轴的距离与所述测距单元到所述转轴的距离保持一致。

6.如权利要求5所述的电子设备，其特征在于，所述测距单元的测距精度为第一精度，所述矫正测距单元的测距精度为第二精度，所述第一精度大于所述第二精度。

7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括第一折叠部、第二折叠部和处理器，所述第一折叠部和所述第二折叠部可通过转轴相对转动，所述第一折叠部设置有测距单元；

其中，所述测距单元包括第一子测距单元和第二子测距单元，所述第一子测距单元朝向所述第二折叠部发射第一子探测信号，所述第二子测距单元朝向所述第二折叠部发射第二子探测信号，其中，所述第一子探测信号与所述第一折叠部之间的夹角为第一角度，所述第二子探测信号与所述第一折叠部之间的夹角为第二角度，所述第一子探测信号及所述第二子探测信号均正交于所述转轴，且所述第一角度与所述第二角度相等。

8.如权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述第一子测距单元与所述转轴之间的距离为第一距离，所述第二子测距单元与所述转轴之间的距离为第二距离，且所述第一距离与所述第二距离相等。

9.如权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述第一子测距单元与所述转轴之间的距离为第三距离，所述第二子测距单元与所述转轴之间的距离为第四距离，所述第三距离与所述第四距离不相等。

10.如权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述第二折叠部设置有矫正测距单元，所述矫正测距单元到所述转轴的距离与所述测距单元到所述转轴的距离保持一致。

11.如权利要求10所述的电子设备，其特征在于，所述测距单元的测距精度为第一精度，所述矫正测距单元的测距精度为第二精度，所述第一精度大于所述第二精度。

12.一种电子设备控制方法，其特征在于，所述电子设备为权利要求1至11任意一项所述的电子设备，所述电子设备控制方法包括：

获取测距单元与探测信号到达第二折叠部的位置之间的探测距离；

根据所述预设角度、所述探测距离以及所述测距单元与所述转轴之间的距离获取所述第一折叠部和所述第二折叠部之间的折叠角度，其中，所述预设角度为所述探测信号与所述第一折叠部之间的角度，且所述探测信号正交于所述转轴。