[发明专利]试样测定装置、程序及测定参数设定支持装置

权利要求书

1.一种试样测定装置，其特征在于，包括：

测定部，进行试样的测定；以及

控制部，对由所述测定部所得的测定结果进行分析；且

所述控制部构成为基于由测定参数的条件互不相同的多个测定条件所得的测定结果，使用模型式来推定并获取其他测定条件下的测定结果，并且基于所推定出的测定结果来推定测定品质指标相对于测定参数的分布。

2.根据权利要求1所述的试样测定装置，其特征在于，所述控制部构成为基于测定品质指标的分布，来算出与测定品质指标的容许范围相应的测定参数的范围。

3.根据权利要求2所述的试样测定装置，其特征在于，所述控制部构成为基于测定品质指标的分布，使用贝叶斯设计空间来显示与测定品质指标的容许范围相应的测定参数的范围。

4.根据权利要求2或3所述的试样测定装置，其特征在于，所述控制部构成为基于测定品质指标的分布，显示与互不相同的多个测定品质指标的容许范围相应的测定参数的多个范围。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的试样测定装置，其特征在于，所述控制部构成为基于测定指标的分布或所算出的测定参数的范围，算出下一个要测定的测定条件的候选用以更新测定参数的范围。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的试样测定装置，其特征在于，所述测定部包含色谱仪，

所述控制部构成为推定色谱波峰分离度及保持时间中的至少一个来作为测定品质指标。

7.根据权利要求6所述的试样测定装置，其特征在于，测定参数包含温度、溶剂浓度、pH值中的至少一个。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的试样测定装置，其特征在于，所述控制部构成为使用贝叶斯推定来推定测定品质指标的分布。

9.一种程序，使计算机执行：基于由用于进行试样测定的测定参数的条件互不相同的多个测定条件所得的测定结果，使用模型式来推定并获取其他测定条件下的测定结果，并基于所推定出的测定结果来推定测定品质指标相对于测定参数的分布。

10.一种测定参数设定支持装置，其特征在于，包括：运算装置，基于由测定参数的条件互不相同的多个测定条件所得的测定结果，使用模型式来推定并获取其他测定条件下的测定结果，并且基于所推定出的测定结果来推定测定品质指标相对于测定参数的分布，所述测定参数用于进行试样测定。