[发明专利]四极质量分析装置

说明书

本发明的四极质量分析装置具备：四极滤质器，围绕中心轴配置有4根杆电极；磁体，在所述四极滤质器的内部的至少一部分形成与所述中心轴交叉的方向的磁场。

技术领域

本发明涉及四极质量分析装置。

背景技术

质量分析装置是根据质荷比(m/z)将源自试样分子的离子分离并检测的装置。四极质量分析装置作为小型且分辨率优异的质量分析装置而被广泛利用。四极质量分析装置是如下的装置：通过将交流电场施加到围绕中心轴而配置的被称为四极滤质器的4根杆状电极上，产生仅使规定的质荷比的离子通过的振荡电场，从而进行质量分析。

在四极质量分析装置中，多以混合有应分析的试样分子与氦等低反应性的载气的试样作为测量对象。因此，若要提高测量精度，需要将应分析的试样分子从载气的分子中分离从而进行测量。

在专利文献1中，在离子源与四极滤质器之间，通过设置夹着离子光轴对置的电极而在该电极间形成规定的交流电场，使得相对较轻的离子大幅偏转。由此，防止大部分相对较轻的载流子的离子向四极滤质器入射。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开第2005-259481号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

即便使用专利文献1的方法，也有微小比率的载气进入四极滤质器。并且，在四极滤质器的中心轴上，由围绕中心轴而配置的4根杆电极形成的电场为零，因此四极滤质器对于沿着其中心轴入射的离子而言不作为滤质器发挥功能。因此，沿着四极滤质器的中心轴入射的源自载气的离子通过四极滤质器到达离子检测器并成为噪声。

由于被离子化的试样及源自载气的离子在中心轴的附近扩散，并且以各种入射角度入射至四极滤质器，因此，沿着中心轴即在中心轴上与中心轴平行地入射的离子的比例极低。

但是，由于载气的量(分子数)远多于试样的量，因此即使是源自载气的离子以微小比率残留而向四极滤质器入射的情况源自载气的离子也会作为较大的噪声而使测量精度降低。

用于解决上述技术问题的方案

本发明的第1方案的四极质量分析装置具备：四极滤质器，围绕中心轴配置有4根杆电极；磁体，在所述四极滤质器的内部的至少一部分形成与所述中心轴交叉的方向的磁场。

本发明的第2方案的四极质量分析装置优选为，在第1方案的四极质量分析装置中，所述磁体在从所述四极滤质器的入射端到长度方向的中间之间的至少一部分形成所述磁场。

本发明的第3方案的四极质量分析装置优选为，在第1方案的四极质量分析装置中，在所述四极滤质器的后级具备碰撞池(collision cell)及第2四极滤质器。

本发明的第4方案的四极质量分析装置优选为，在第3方案的四极质量分析装置中，所述第2四极滤质器具有第2磁体，所述第2磁体在所述第2四极滤质器的内部形成与所述第2四极滤质器的中心轴交叉的方向的磁场。

本发明的第5方案的四极质量分析装置优选为，在第1方案的四极质量分析装置中，在所述四极滤质器的后级进一步具备飞行管(flight tube)。

本发明的第6方案的四极质量分析装置优选为，在第1至第5的任一方案的四极质量分析装置中，具备将由载气输送的分析对象离子化的气体试样离子化装置。

本发明的第7方案的四极质量分析装置优选为，在第1至第5的任一方案的四极质量分析装置中，具备将由载液输送的分析对象离子化的液体试样离子化装置。

本发明的第8方案的四极质量分析装置优选为，在第1至第4的任一方案的四极质量分析装置中，具备电感耦合等离子体离子化装置。