[发明专利]四极质量分析装置

权利要求书

1.一种四极质量分析装置，其特征在于，具备：

四极滤质器，围绕中心轴配置有4根杆电极；

磁体，在所述四极滤质器的内部的至少一部分形成与所述中心轴交叉的方向的磁场。

2.如权利要求1所述的四极质量分析装置，其特征在于，

所述磁体在从所述四极滤质器的入射端到长度方向的中间之间的至少一部分形成所述磁场。

3.如权利要求1所述的四极质量分析装置，其特征在于，

在所述四极滤质器的后级具备碰撞池及第2四极滤质器。

4.如权利要求3所述的四极质量分析装置，其特征在于，

具有第2磁体，在所述第2四极滤质器的内部形成与所述第2四极滤质器的中心轴交叉的方向的磁场。

5.如权利要求1所述的四极质量分析装置，其特征在于，

在所述四极滤质器的后级进一步具备飞行管。

6.如权利要求1～5的任一项所述的四极质量分析装置，其特征在于，

具备将由载气输送的分析对象离子化的气体试样离子化装置。

7.如权利要求1～5的任一项所述的四极质量分析装置，其特征在于，

具备将由载液输送的分析对象离子化的液体试样离子化装置。

8.如权利要求1～4的任一项所述的四极质量分析装置，其特征在于，

具备电感耦合等离子体离子化装置。

9.如权利要求1～5的任一项所述的四极质量分析装置，其特征在于，

所述磁体为电磁体，

四极质量分析装置具有电流控制部，控制供给至所述电磁体的电流。

10.如权利要求9所述的四极质量分析装置，其特征在于，

所述电流控制部根据分析对象离子的质荷比来设定供给至所述电磁体的电流的量。

11.如权利要求10所述的四极质量分析装置，其特征在于，

所述分析对象离子的质荷比越高，所述电流控制部将流向所述电磁体的电流的量设定得越大。