[发明专利]显示屏的激光修复及检查方法和适合其的修复及检查装置在审

专利信息
申请号: 201880097086.0 申请日: 2018-09-06
公开(公告)号: CN112639590A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 李真远;金源旼;李圣宰 申请(专利权)人: 株式会社考恩斯特
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1362
代理公司: 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 代理人: 刘云飞
地址: 韩国京畿道*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示屏 激光 修复 检查 方法 适合 装置
【权利要求书】:

1.一种激光修复及检查装置,其特征在于,

具有:

激光光源,释放激光;

狭缝,通过激光,并调节激光的大小和形式;

管式透镜,使通过所述狭缝的激光通过而第一次调节聚光度,并使通过屏的影像光;

物镜计,接收通过管式透镜的光而通过,并第二次调节聚光度而照射至所述屏,并通过所述屏的影像光,调节所述影像光的聚光度;

照明光源,通过所述物镜计而释放照射所述屏的照明光;

摄像装置,接收通过所述管式透镜的影像光而获取所述屏的影像;及

红外线透过光源,基于所述屏而设置在所述物镜计对面,照射所述屏。

2.根据权利要求1所述的激光修复及检查装置,其特征在于,

在所述物镜计的对面,与所述红外线透过光源一起,具有可视光透过光源,将可视光与所述红外线透过光源大体上一起照射至所述屏里侧。

3.一种激光修复及检查方法,作为利用权利要求2的激光修复及检查装置的激光修复及检查方法,其特征在于,

包括如下步骤:

对所述屏的表面侧照射由所述照明光源产生的照明光,从所述可视光透过光源向所述屏的里侧照射透光,并实施对所述屏的点灯检查;

借助所述点灯检查,通过从所述摄像装置获取的影像而确认光经常从所述屏通过的强制发光的不合格像素;

对所述屏确认的不合格像素照射激光而将所述不合格像素暗点化;

以对所述屏不进行所述照明光源及所述可视光透过光源而产生的照射的状态下,从所述红外线透过光源照射红外线而通过从所述摄像装置获取的影像而确认是否准确进行了对于所述不合格像素的暗点化。

4.根据权利要求3所述的激光修复及检查方法,其特征在于,

所述步骤通过原位方式而在不移动所述屏的方式下进行。

5.根据权利要求3所述的激光修复及检查方法,其特征在于,

对于将所述不合格像素暗点化的步骤,通过附着在所述屏的表面侧的偏光膜和所述物镜计的焦距调节而将激光的能源集中至所述屏的滤色层。

6.一种激光修复及检查方法,作为一种利用权利要求1或2的激光修复及检查装置的激光修复及检查方法,其特征在于,

包括如下步骤:

对于所述屏确认的不合格像素而照射激光而使所述不合格像素暗点化;对于所述屏而从所述红外线透过光源照射红外线而确认所述不合格像素的暗点化是否准确进行。

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