[发明专利]粒子检测装置

说明书

粒子检测装置(100)具有：第1光源(11)，其射出第1照射光(L1)；第1聚光部件(31)，其具有凹状的第1反射面；第2聚光部件(32)，其具有与第1反射面对置的凹状的第2反射面；第2光源(21)，其射出第2照射光(L2)；以及第1受光元件(41)，其输出表示与第1入射光的强度对应的值的第1检测信号(D1)，在第1光源(11)射出第1照射光(L1)时，第1受光元件(41)检测第1照射光被照射到存在于对象空间(30)内的检测位置处的粒子而产生的散射光作为第1入射光，在第2光源(21)射出第2照射光(L2)时，第1受光元件(41)检测第2照射光(L2)中的由第1反射面反射后的光以及由第1反射面和第2反射面双方反射后的光作为第1入射光。

技术领域

本发明涉及检测浮游粒子的粒子检测装置。

背景技术

已提出如下的各种粒子检测装置(也称作“粒子传感器”)：通过检测对存在花粉或尘埃等浮游的微小体即粒子的空间照射光时由粒子产生的散射光，判定粒子的量、粒子的大小或粒子的种类等。例如，专利文献1记载有如下的粒子传感器：由作为聚光部件的聚光镜反射对粒子照射从光源射出的光时由粒子产生的散射光，由受光元件检测被聚光后的散射光。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开第2007/063862号(例如图13、图15、段落0171～0173)

发明内容

发明要解决的课题

但是，被取入粒子传感器内的空气中浮游的粒子的一部分作为污垢附着于聚光镜，由此，有时聚光镜的光反射特性变化。该情况下，由粒子传感器的受光元件检测的散射光的强度产生变化，存在无法准确地检测粒子这样的问题。

本发明正是为了解决上述现有技术的课题而完成的，其目的在于，提供能够检测聚光部件的污垢程度的粒子检测装置。

用于解决课题的手段

本发明的一个方式的粒子检测装置检测对象空间内浮游的粒子，其特征在于，所述粒子检测装置具有：第1光源，其射出在所述对象空间内行进的第1照射光；第1聚光部件，其具有凹状的第1反射面；第2聚光部件，其具有隔着所述对象空间而与所述第1反射面对置的凹状的第2反射面；第2光源，其射出第2照射光；以及第1受光元件，其输出表示与第1入射光的强度对应的值的第1检测信号，在所述第1光源射出所述第1照射光时，所述第1受光元件检测所述第1照射光被照射到存在于所述对象空间内的预定的检测位置处的粒子而产生的散射光作为所述第1入射光，在所述第2光源射出所述第2照射光时，所述第1受光元件检测所述第2照射光中的由所述第1反射面反射后的光以及由所述第1反射面和所述第2反射面双方反射后的光作为所述第1入射光。

发明效果

根据本发明，能够检测粒子检测装置的聚光部件的污垢程度。

附图说明

图1是概略地示出本发明的实施方式1的粒子检测装置的光学系统的结构和控制系统的结构的图。

图2是概略地示出实施方式1的粒子检测装置的光学系统的结构和用于取入空气的结构的图。

图3是概略地示出实施方式1的变形例的粒子检测装置的光学系统的结构和控制系统的结构的图。

图4的(a)～(c)是概略地示出实施方式1的粒子检测装置的粒子检测时的第1照射光的路径和散射光的路径的图。

图5的(a)和(b)是概略地示出实施方式1的粒子检测装置的污垢检测时的第2照射光的路径的图。

图6是示出实施方式1的粒子检测装置的第1受光元件与第2光源的位置关系的图。

图7是示出实施方式1的粒子检测装置的动作的流程图。