[发明专利]使用多次遍历对齐介质有效
| 申请号: | 201880092832.7 | 申请日: | 2018-06-22 |
| 公开(公告)号: | CN112004685B | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
| 发明(设计)人: | J·M·昆塔纳;J·S·贡德特 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号: | B41J13/10 | 分类号: | B41J13/10;B41J29/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;吕传奇 |
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 多次 遍历 对齐 介质 | ||
用于对齐介质的装置示例。该装置包括用于在介质的第一面形成标记的打印机组装件。该装置还包括用于在多个位置检测每次遍历上的背面图案的传感器。该装置包括与传感器进行通信的处理器。处理器用于比较多次遍历上测量的背面图案,以确定偏移量。该装置还包括控制器,用于基于偏移值相对于打印机组装件调整介质。
背景技术
诸如打印机的成像设备在介质(media)上形成图像。例如,热打印系统可以向热反应介质施加热量以形成图像。热反应介质可以具有嵌入堆叠层中的着色剂,并且特定的温度和暴露持续时间可以引起嵌入的着色剂的活化。
技术领域
本发明涉及一种用于使用多次遍历对齐介质的装置和方法。
发明内容
一种用于相对于打印机组装件调整介质以便对齐介质的装置,包括:打印机组装件,用于在介质的第一面形成标记,其中打印机组装件用于在介质之上进行第一次遍历和第二次遍历;第一传感器,用于检测在介质第二面上的第一位置的背面图案,并且检测在介质第二面上的第二位置的背面图案,其中介质第二面与介质第一面相对;处理器,与第一传感器进行通信,其中所述处理器用于比较在第一位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案,以确定第一偏移,并且将在第二位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案进行比较,以确定第二偏移;和控制器,用于控制打印机组装件,其中控制器基于第一位置处的第一偏移以及基于第二位置处的第二偏移来相对于打印机组装件调整介质,用于在介质之上的第二次遍历。
一种用于相对于打印机组装件调整介质以便对齐介质的方法,包括:在第一位置检测背面图案;在第二位置检测背面图案,其中第一位置在介质的第一端,并且第二位置在与第一端相对的介质的中点;将在第一位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案相匹配,以确定第一偏移;在第一位置将介质相对于打印机组装件调整第一偏移;将在第一位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案相匹配,以确定第二偏移;和在第二位置将介质相对于打印机组装件重新调整第二偏移。
附图说明
现在将仅通过举例的方式对附图进行参考,其中:
图1是用于对齐遍历(pass)通过打印机组装件的介质的装置的框图;
图2A-B是装置的俯视图,其示出了(a)在两个位置处进行测量的示例;和(b)连续进行测量的示例;
图3是背面图案的示例;
图4A-B是来自背面图案的传感器的信号绘图,其中(a)是第一次遍历,并且(B)是与第一次遍历偏移的第二次遍历;
图5是对齐遍历通过打印机组装件的介质的示例方法的流程图;
图6A-B是另一个示例的装置的侧视图,其示出了(a)第一侧;和(b)第二侧;和
图7是该装置的俯视图。
具体实施方式
诸如打印系统的成像设备可以使用各种手段在介质上生成输出。在一些示例中,打印系统可以使用热打印方法,其中热量被施加到介质。在其他示例中,可以使用热量将着色剂转移到介质,或者可以利用喷墨喷射着色剂,或者在一些情况下,着色剂首先被施加到鼓或带上,并且然后被熔接到介质。因此,打印系统可以牵涉到相对于打印机组装件移动介质,使得打印机组装件可以标记介质的表面。在一些应用中,打印机组装件可以在介质之上进行若干次遍历,以改进介质上标记的质量,诸如改进色域。例如,每次遍历可以牵涉到打印机组装件55的不同部分,诸如当利用多个打印头进行打印不可行时牵涉到不同的打印头。替代地,第二次遍历可以用于通过增强第一次遍历的标记来增加进一步的对比度。然而,由于介质在第二次遍历上未对齐,打印机组装件在介质之上的多次遍历可能导致降低的标记质量。未对齐的原因可能未被特别限制。例如,未对齐可能由介质与进给系统之间的滑移、反冲和/或进给系统中的传动齿轮引起。
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