[发明专利]使用多次遍历对齐介质

权利要求书

1.一种用于相对于打印机组装件调整介质以便对齐介质的装置，包括：

打印机组装件，用于在介质的第一面形成标记，其中打印机组装件用于在介质之上进行第一次遍历和第二次遍历；

第一传感器，用于检测在介质第二面上的第一位置的背面图案，并且检测在介质第二面上的第二位置的背面图案，其中介质第二面与介质第一面相对；

处理器，与第一传感器进行通信，其中所述处理器用于比较在第一位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案，以确定第一偏移，并且将在第二位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案进行比较，以确定第二偏移；和

控制器，用于控制打印机组装件，其中控制器基于第一位置处的第一偏移以及基于第二位置处的第二偏移来相对于打印机组装件调整介质，用于在介质之上的第二次遍历。

2.根据权利要求1所述的装置，其中第一位置和第二位置沿着介质以基本上相等的距离间隔。

3.根据权利要求1所述的装置，其中第一传感器用于沿着介质连续地检测背面图案。

4.根据权利要求3所述的装置，其中控制器用于沿着介质相对于打印机组装件连续地调整介质。

5.根据权利要求1所述的装置，其中第一传感器用于检测线对，并且其中处理器确定第一偏移以匹配在第一次遍历上检测到的线对。

6.根据权利要求1所述的装置，进一步包括相对于第一传感器布置在固定位置的第二传感器，其中第一传感器和第二传感器用于跟踪歪斜。

7.根据权利要求6所述的装置，其中控制器用于相对于打印机组装件调整介质，以校正歪斜。

8.一种用于相对于打印机组装件调整介质以便对齐介质的方法，包括：

在第一位置检测背面图案；

在第二位置检测背面图案，其中第一位置在介质的第一端，并且第二位置在与第一端相对的介质的中点；

将在第一位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案相匹配，以确定第一偏移；

在第一位置将介质相对于打印机组装件调整第一偏移；

将在第一位置在第一次遍历期间测量的背面图案与在第二次遍历期间测量的背面图案相匹配，以确定第二偏移；和

在第二位置将介质相对于打印机组装件重新调整第二偏移。

9.根据权利要求8所述的方法，其中检测背面图案包括沿着介质连续地检测背面图案。

10.根据权利要求9所述的方法，其中相对于打印机组装件调整介质包括沿着介质连续地调整。

11.根据权利要求8所述的方法，其中检测背面图案包括检测图案密度。

12.一种包括可由处理器执行的指令的非暂时性机器可读存储介质，所述非暂时性机器可读存储介质包括：

用于在介质的第一次遍历期间在第一位置和第二位置检测背面图案的指令；

用于在介质的第二次遍历期间在第一位置和第二位置检测背面图案的指令；

用于将在第一位置在第一次遍历和第二次遍历期间测量的背面图案相匹配以确定第一偏移的指令；

用于基于第一偏移在第一位置将介质相对于打印机组装件调整的指令；

用于将在第二位置在第一次遍历和第二次遍历期间测量的背面图案相匹配以确定第二偏移的指令；和

用于基于第一偏移在第一位置将介质相对于打印机组装件调整的指令。

13.根据权利要求12所述的非暂时性机器可读存储介质，包括用于沿着介质连续地检测背面图案的指令。

14.根据权利要求13所述的非暂时性机器可读存储介质，包括用于相对于打印机组装件连续地调整介质的指令。

15.根据权利要求12所述的非暂时性机器可读存储介质，包括用于检测多个嵌入标志的指令。