[发明专利]检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201880088381.X 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111699377B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 牛立涛 申请(专利权)人: 深圳配天智能技术研究院有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06T7/64;G06T7/62;G06T7/174
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518063 广东省深圳市南山区粤海街道高*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 方法
【说明书】:

本申请公开了一种检测装置及检测方法,所述检测装置包括:图像采集单元,用于采集被检测物体的图像;旋转单元,用于放置被检测物体并带动被检测物体旋转,使图像采集单元对被检测物体上同一凹坑采集至少两张图像,得到完整的同一凹坑的凹坑图像;处理单元,用于从图像采集单元获得被检测物体的凹坑图像,从旋转单元获取对应于凹坑图像的旋转角度,根据凹坑图像及旋转角度得到凹坑参数,以低算法难度实现高精度且高效率的凹坑检测。

技术领域

发明涉及检测技术领域,特别是涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

工生产中,产品表面的缺陷是通过2D机器视觉或者3D机器视觉进行检测的。其中,基于2D的机器视觉只能够实现某一平面内的定位、测量、表面缺陷检测等功能,无法对凹坑等三维缺陷进行检测,即若测量其尺寸(凹坑的宽、高、面积及周长等信息)便无法测得其深度(垂直于物体表面的方向)信息,而要检测出其深度信息通常会无法检测出其尺寸信息。基于单目的3D机器视觉需要结合结构光,且需要多次拍照以建立被测物体的3D模型再进行检测,其需要移动相机位置多次拍照,硬件成本较高、算法难度高、执行效率较低、检测精度也较低。

发明内容

本申请主要解决的技术问题提供一种检测装置及检测方法,以低算法难度实现高精度且高效率的凹坑检测。

为解决上述技术问题,本申请采用的一个技术方案是:

提供一种检测装置,包括:

图像采集单元,用于采集被检测物体的图像;

旋转单元,用于放置所述被检测物体并带动所述被检测物体旋转,以使所述图像采集单元对所述被检测物体上的同一凹坑采集至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的图像;及

处理单元,与所述旋转单元及所述图像采集单元连接,用于从所述图像采集单元获得所述被检测物体的凹坑图像及从所述旋转单元获取对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数。

为解决上述技术问题,本申请采用的另一个技术方案是:

提供一种检测装置的检测方法,包括:

控制被检测物体旋转;

采集所述被检测物体上同一凹坑的至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的凹坑图像;

根据采集到的所述被检测物体的凹坑图像及对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数。

本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请通过设置旋转单元,放置被检测物体并带动被检测物体旋转,以使图像采集单元对所述被检测物体上的同一凹坑采集至少两张图像,并得到完整的所述同一凹坑的图像;处理单元,与所述旋转单元及所述图像采集单元连接,从所述图像采集单元获得所述被检测物体的凹坑图像及从所述旋转单元获取对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数,从而以低算法难度实现高精度且高效率的凹坑检测。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请检测装置的方框结构示意图;

图2是本申请检测装置的具体结构示意图;

图3是本申请圆柱物体的立体结构示意图;

图4是本申请检测装置的应用示意图;

图5是本申请所采集到的凹坑图像结构示意图;

图6是本申请检测方法的流程示意图。

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