[发明专利]检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201880088381.X 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN111699377B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 牛立涛 申请(专利权)人: 深圳配天智能技术研究院有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06T7/64;G06T7/62;G06T7/174
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518063 广东省深圳市南山区粤海街道高*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种检测装置,包括:

图像采集单元,用于采集被检测物体的图像;

旋转单元,用于放置所述被检测物体并带动所述被检测物体旋转,以使所述图像采集单元对所述被检测物体上的同一凹坑采集至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的凹坑图像;及

处理单元,与所述旋转单元及所述图像采集单元连接,用于从所述图像采集单元获得所述被检测物体的凹坑图像及从所述旋转单元获取对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数;

其中,所述处理单元还包括标定转换子单元以及凹坑高度检测子单元,所述标定转换子单元用于从所述图像采集单元接收所述被检测物体的凹坑图像并将所述凹坑图像的像素数据转换为实际坐标数据,所述凹坑高度检测子单元用于检测所述凹坑凹面上平行于所述被检测物体的中心轴方向上的两边缘点之间的距离,作为所述凹坑的高度;

同时,所述待检测物体为圆柱体时,所述凹坑的面积满足公式:

S为所述凹坑的面积,θ为所述旋转单元的旋转角度,θ1为所采集的图像中第一次出现所述凹坑时所述旋转单元的旋转角度,θ2为所采集的图像中最后一次出现同一凹坑时所述旋转单元的旋转角度,h(θ)为不同旋转角度下对应的所述凹坑的高度,r为所述圆柱体的半径,d为不同旋转角度下对应的所述凹坑的深度。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述旋转单元包括旋转平台及控制所述旋转平台旋转的控制单元,所述旋转平台用于放置所述被检测物体,所述控制单元用于获取所述图像采集单元采集所述被检测物体的凹坑图像时所述旋转平台的旋转角度并输出给所述处理单元。

3.根据权利要求2所述的检测装置,其中,所述处理单元包括旋转角度检测子单元,用于从所述控制单元接收所述旋转角度并从所述旋转角度中找到最大值与最小值,将所述旋转角度的最大值与最小值之差作为所述凹坑的对应中心角参数。

4.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述处理单元还包括凹坑深度检测子单元,用于检测所述凹坑凹面上的点到所述凹坑凹面平行于所述被检测物体的中心轴方向上的两边缘点所在直线的距离,作为所述凹坑的深度。

5.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述检测装置还包括光源单元,与所述图像采集单元及所述被检测物体位于同一直线上,且位于远离所述图像采集单元的一端,所述光源单元的发光面对准所述图像采集单元。

6.根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述图像采集单元为工业相机,所述旋转单元中的控制单元为电机。

7.一种检测装置的检测方法,包括:

控制被检测物体旋转;

采集所述被检测物体上同一凹坑的至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的凹坑图像;

根据采集到的所述被检测物体的凹坑图像及对应于所述凹坑图像的旋转角度得到所述凹坑的参数;

其中,所述根据采集到的所述被检测物体的凹坑图像及对应于所述凹坑图像的旋转角度得到所述凹坑的参数的步骤,包括:

将所述凹坑图像的像素数据转换为实际坐标数据;

检测所述凹坑凹面上平行于所述被检测物体的中心轴方向上的两边缘点之间的距离,作为所述凹坑的高度;

同时,所述待检测物体为圆柱体时,所述凹坑的面积满足公式:

S为所述凹坑的面积,θ为所述旋转角度,θ1为所采集的图像中第一次出现所述凹坑时的旋转角度即所述旋转角度的最小值,θ2为所采集的图像中最后一次出现同一凹坑时的旋转角度即所述旋转角度的最大值,h(θ)为不同旋转角度下对应的所述凹坑的高度,r为所述圆柱体的半径,d为不同旋转角度下对应的所述凹坑的深度。

8.根据权利要求7所述的检测方法,其中,所述控制被检测物体旋转包括:

将所述被检测物体放置在旋转平台,控制所述旋转平台旋转以带动所述被检测物体旋转;及获取采集到所述被检测物体的凹坑图像时所述旋转平台的旋转角度。

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