[发明专利]确定透明膜上的涂层性质的方法和装置以及制造电容器膜的方法

权利要求书

1.一种用于使用一种结构来确定电容器的透明膜(7)上的涂层(1)的性质的方法，所述结构包括：

-光源(2)，

-传感器(3)，以及

-中央处理单元(4)，

所述方法包括以下步骤：

-A)在穿过所述光源(2)与所述传感器(3)之间的路径(10)上移动具有所述涂层(1)的所述透明膜(7)，

-B)由所述光源(2)照射所述透明膜(1)上的所述涂层，

-C)由所述传感器(3)检测来自所述光源(2)的透射光(5)的强度，

-D)由所述处理单元(4)基于所测量出的透射光(5)的强度来计算所述透明膜(1)上的所述涂层的性质。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述涂层(1)是金属化。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，在步骤B)中，由所述光源发射电磁频谱的多个波长的光，以用于照射所述透明膜(7)上的所述涂层(1)。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，在步骤B)中，所述光源(2)发射在光学频谱范围内的光。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述方法包括以下步骤：以所发射的光的频率执行扫描，以便确定相对于所述透明膜(7)上的所述涂层(1)的材料而言最佳的波长。

6.根据前述权利要求5所述的方法，其中，当所述涂层中的材料的衰减系数为最大时，或者当在所述涂层包括至少两种不同材料的情况下对于该波长两种材料的衰减系数的差为最大时，波长是最佳的。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述透明膜(7)上的所述涂层(1)包括一个以上的层(6)。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤E)中计算每个层(6)的厚度。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述透明膜(7)上的所述涂层(1)包含一种以上的材料。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤E)中计算所述透明膜(7)上的所述涂层(1)中的每种材料的含量。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述透明膜(7)上的所述涂层(1)包括Al、Zn、Cu、Ag或Mg中的至少一种元素。

12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，基于比尔定律来进行所述计算。

13.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，移动膜的方法步骤A)通过在生产线中从第一辊(8)退绕所述透明膜(7)上的所述涂层(1)并且同时将所述透明膜(7)上的所述涂层(1)向上卷绕在第二辊(9)上来实现。

14.一种用于使用一种结构来制造电容器膜的方法，所述结构包括：

-光源(2)，

-传感器(3)，以及

-中央处理单元(4)，

所述方法包括以下步骤：

-A)将金属的涂层(1)涂覆在透明膜(7)上，

-B)在穿过所述光源(2)与所述传感器(3)之间的路径上移动具有所述涂层(1)的所述透明膜(7)，

-C)由所述光源(2)照射所述透明膜(7)上的所述涂层(1)，

-D)由所述传感器(3)检测来自所述光源(2)的透射光(5)的强度，

-E)由所述处理单元(4)基于所测量出的透射光(5)的强度来计算所述透明膜(7)上的所述涂层(1)的性质，

-F)基于来自步骤E)的所计算出的性质来调整步骤A)的涂覆过程。

15.一种用于确定透明膜(7)上的涂层(1)的性质的装置，其包括：

-光源(2)，其被配置成照射所述透明膜(7)上的所述涂层(1)，

-传感器(3)，其被配置成检测通过所述透明膜(7)上的所述涂层(1)的透射光强度，

-中央处理单元(4)，其被配置成基于取决于光的波长的、所测量出的透射光的强度来计算所述透明膜(7)上的所述涂层(1)的性质。