[发明专利]表面特性检查装置和记录介质有效

专利信息
申请号: 201880073482.X 申请日: 2018-12-14
公开(公告)号: CN111356913B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 长冈英一 申请(专利权)人: 株式会社堀场制作所
主分类号: G01N21/57 分类号: G01N21/57;G01B11/24
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 李雪春;李成必
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 表面 特性 检查 装置 记录 介质
【说明书】:

本发明提供表面特性检查装置,使检测检测对象的表面特性时的检测设备的定位变得容易,所述表面特性检查装置包括:检测设备,向检测对象照射光并检测来自检测对象的反射光;处理部,通过处理来自检测设备的数据来计算表面特性;引导信息生成部,生成与相对于检测对象的检测设备的距离和/或姿势相关的信息;以及通知部,通知由引导信息生成部生成的与距离和/或姿势相关的信息。

技术领域

本发明涉及通过检测来自检测对象的反射光来计算该检测对象的表面特性的表面特性检查装置和记录介质。

背景技术

以往,有对作为检测对象的表面特性的反射率或光泽度进行测定的光泽计(专利文献1)。

该光泽计是便携型的,通过将收容光源和光检测器的壳体与检测对象接触,使相对于检测对象的光源和光检测器的距离及姿势成为适合测定的状态。

可是,检测对象的表面为非平坦面时、检测对象为柔软物体或液体时,即使将所述壳体接触,也难以将相对于检测对象的光源和光检测器的距离和姿势设为适合测定的状态。

此外,上述的检测对象的情况下,也考虑在不接触检测对象的情况下测定表面特性,但是不接触检测对象,则难以对相对于该检测对象的光源和光检测器的距离和姿势进行定位。

现有技术文献

专利文献1:日本专利公开公报特开2010-127661号

发明内容

本发明为解决上述问题而提出,主要课题是使对检测对象的表面特性进行检测时的检测设备的定位变得容易。

即本发明的表面特性检查装置的特征在于包括:检测设备,向检测对象照射光并检测来自该检测对象的反射光;处理部,通过对来自所述检测设备的数据进行处理来计算所述检测对象的表面特性;引导信息生成部,生成与相对于所述检测对象的所述检测设备的距离和/或姿势相关的信息;以及通知部,通知由所述引导信息生成部生成的与所述距离和/或所述姿势相关的信息。

按照这种构成,因为具有通知与相对于检测对象的检测设备的距离和/或姿势相关的信息的通知部,所以用户能够根据该信息对检测设备的位置进行调整,可以使对检测对象的表面特性进行检测时的检测设备的定位变得容易。

为了看一下就能识别与相对于检测对象的检测设备的距离和/或姿势相关的信息,优选所述通知部将与所述距离和/或所述姿势相关的信息显示在显示器上。

优选所述引导信息生成部生成与所述距离和/或所述姿势相关的信息,以使所述检测设备成为向所述检测对象照射光并接收在所述检测对象上相对于表面的法线方向以规定角度反射的反射光的姿势。这里,优选所述反射光为镜面反射光。

按照所述结构,能够高精度检测在检测对象的表面反射的反射光,因此可以高精度计算例如至检测对象的距离和检测对象的反射率等。

有如下可能:根据检测对象的表面形状,检测设备检测的反射光发生变化,从而计算的表面特性也发生变化。

这里检测设备具有拍摄部且所述拍摄部具有二维配置的多个光接收元件时,处理部可以采用来自所述拍摄部的数据对所述检测对象的表面形状进行识别。因此,优选处理部根据识别的表面形状对所述表面特性进行修正。

例如,检测对象的表面形状为曲面时,可以考虑对该曲率的大小给镜面反射光的分布状态带来的影响进行修正。

优选所述检测设备还具备向所述检测对象照射光的光源,以及以规定的频率对所述光源的发光强度进行调制的光源控制部,所述处理部采用与所述发光强度的调制频率同步的所述检测数据计算所述检测对象的表面特性。

按照所述结构,能够降低干扰光的影响和多路反射的影响。

具体考虑所述处理部根据与所述发光强度的调制频率同步的所述检测数据计算所述检测对象的反射率。

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