[发明专利]图像获取方法及系统

说明书

一种图像获取方法，该方法包括：投射模块初始光栅条纹到目标物体的被测面(201)，成像模块接收所述初始光栅条纹经过所述被侧面反射后的初始调制光栅条纹(202)；成像模块根据所述初始调制光栅条纹，确定出所述被测面的参考三维图像(203)；若所述参考三维图像的图像质量低于预设图像质量阈值，则根据所述参考三维图像确定出目标光栅条纹(204)；分区域自适应地控制微型LED阵列，实现对光栅条纹的精确调整，并将所述目标光栅条纹投射到所述被测面(205)；接收所述目标光栅条纹经过所述被测面反射后的目标调制光栅条纹(206)；根据所述目标调制光栅条纹，确定出所述被测面的目标三维图像(207)。该方法突出检测场景中的黑暗区域，减弱饱和区域，可提升对目标物体的被测面的图像获取时的准确性。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及图像获取方法及系统。

背景技术

现代工业制造中，自动光学检测系统AOI(Automatic Optical Inspection)常被用来高速检测外观缺陷。其一般采用2D的方式(因为容易实现)，即光源+相机系统的形式来进行。但近年来，随着工业技术的迅猛发展，3D检测的需求也越来越大。比如在电子行业，印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)的元件不断缩小，复杂性不断提高，对于高端PCB制造(比如智能手机和汽车行业)，单纯采用2D检测已经很难找到有缺陷或安装错误的元件，即3D检测已经成为了行业发展趋势。

光栅投影技术由于测量系统简单、高精度和高分辨率等优点被广泛应用于3D形貌测量。然而，由于被检物体表面的复杂性，不同区域可能产生镜面反射、漫反射，甚至会出现光强不足，导致投影到被测面的光栅条纹无法准确反映真实表面形貌。例如，高反光的镜面反射区域由于光强超过相机的感应范围，在图像上会形成灰度饱和而丢失物体表面的细节信息，从而导致获取被侧面的图像的准确性较低。

发明内容

本申请提供一种图像获取方法及系统，能够提升获取被测物体的被测面的图像时的准确性。

本申请实施例的第一方面提供了一种图像获取方法所述方法包括：

投射初始光栅条纹到目标物体的被测面；

接收所述初始光栅条纹经过所述被测面反射后的初始调制光栅条纹；

根据所述初始调制光栅条纹，确定出所述被测面的参考三维图像；

获取所述参考三维图像的图像质量，若所述参考三维图像的图像质量低于预设图像质量阈值，则根据所述参考三维图像确定出目标光栅条纹；

将所述目标光栅条纹投射到所述被测面；

接收所述目标光栅条纹经过所述被测面反射后的目标调制光栅条纹；

根据所述目标调制光栅条纹，确定出所述被测面的目标三维图像。

结合本申请实施例的第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述被测面包括多个区域，所述获取所述参考三维图像的图像质量，包括：

将所述参考三维图像按照所述被测面的区域进行拆分，得到多个子参考三维图像；

获取所述多个子参考三维图像中的每个子参考三维图像的图像质量；

将所述多个子参考三维图像的图像质量中的最小值作为所述参考三维图像的图像质量。

结合本申请实施例第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述根据所述参考三维图像确定出目标光栅条纹，包括：

根据所述多个子参考三维图像，得到所述被测面中与所述多个子参考三维图像相对应的区域的光强；

根据所述被测面中与所述多个子参考三维图像相对应的区域的光强，按照预设的遗传算法确定出所述被测面中与所述多个子参考三维图像对应的区域的目标光强；