[发明专利]用于瓦楞板生产工厂的预测诊断方法

权利要求书

1.一种用于监视瓦楞板生产工厂的操作的方法，包括以下步骤：

检测工厂的功能单元的至少一个操作参数，并在当前时间窗口中计算所述参数的至少第一统计函数的当前值；

基于操作参数的历史化数据，计算所述第一统计函数的最大值和最小值；

将所述第一统计函数的当前值与根据所述历史化数据计算的所述第一统计函数的所述最大值和所述最小值进行比较；

基于所述比较的结果，生成关于所述功能单元的预测诊断的信息。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：

在所述当前时间窗口中计算所述操作参数的至少第二统计函数的当前值；

基于操作参数的所述历史化数据计算所述第二统计函数的最大值和最小值；

将所述第二统计函数的当前值与根据所述历史化数据计算的所述第二统计函数的所述最大值和所述最小值进行比较；

基于所述第一统计函数和所述第二统计函数的值与根据操作参数的所述历史化数据计算的相应最大值和最小值之间的比较的结果，生成预测诊断的信息。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，操作参数的历史化数据是包含于在时间上位于当前时间窗口之前的可移动学习时间窗口中的数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，学习时间窗口的持续期长于当前时间窗口的持续期，并且优选地等于当前时间窗口的持续期的倍数。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其中，所述第一统计函数和第二统计函数中的至少一个的最大值和最小值被确定为在包含于可移动学习时间窗口内的用于计算统计函数的多个窗口上计算的相同统计函数的最大值和最小值。

6.根据权利要求3或4或5所述的方法，其中，可移动学习时间窗口与当前时间窗口相距包含于可移动学习时间窗口和当前时间窗口之间的时间间隔。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，包含于当前时间窗口和可移动学习时间窗口之间的时间间隔具有固定或可变的持续期。

8.根据权利要求3至7中的一项或更多项所述的方法，其中，根据操作参数的历史化数据计算第一统计函数或第二统计函数的最大值和最小值的步骤包括以下步骤：

-针对用于计算包含在可移动学习时间窗口内或可移动学习时间窗口被细分为的窗口内的统计函数的一系列窗口的每个窗口，计算所述第一统计函数和所述第二统计函数中的至少一个的值，

-在针对用于计算包含在可移动学习时间窗口内的统计函数的所述一系列窗口计算的统计函数的值中，确定所述第一统计函数或所述第二统计函数的最大值和最小值。

9.根据前面的权利要求中的一项或更多项所述的方法，其中，所述第一统计函数是当前时间窗口中的参数的平均值或当前时间窗口中的参数的方差。

10.根据前面的权利要求中的一项或更多项所述的方法，其中，所述第二统计函数是当前时间窗口中的参数的方差或当前时间窗口中的参数的平均值。

11.根据前面的权利要求中的一项或更多项所述的方法，其中，所述操作参数与所述功能单元的至少一个另外的参数相关。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述操作参数的历史化数据包括针对所述功能单元的所述另外的参数的不同值中的每一个的所述操作参数的多个值。

13.根据前面的权利要求中的一项或更多项所述的方法，包括以下步骤：在一时间系列的学习时间间隔中计算所述操作参数的至少一个统计函数的相应最大值和最小值；检测针对所述系列的各学习时间间隔计算的所述最大值和所述最小值的随时间的任何漂移；如果检测到漂移，则信号发送异常。