[发明专利]二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序

说明书

本发明公开一种二维闪烁测量装置，具备：二维成像元件，具有读取摄像区域的一部分的部分读取功能；设置部，将多个与包括至少两个测量区域的部分区域对应的一部分设置于摄像区域；控制部，进行通过将所设置的一部分的数量作为摄像次数，使二维成像元件使用部分读取功能，多次摄像测量对象物，获取与多个一部分分别对应的多个部分区域的测光量；以及计算部，针对多个部分区域中的每一个，执行基于所获取的部分区域的测光量，计算部分区域所包含的至少两个测量区域的闪烁量这一处理。

技术领域

本发明例如涉及一种测量显示屏的闪烁量的技术。

背景技术

为了评价显示屏的闪烁不均匀性，而测量设置在显示屏上的多个测量区域(测量点)各自的闪烁量。点型闪烁测量装置通过一次测量来测量一个测量区域的闪烁量。为了使用点型闪烁测量装置来测量设置在显示屏上的多个测量区域各自的闪烁量，考虑如下方法(1)或(2)：(1)测量者准备多台闪烁测量装置，通过一台闪烁测量装置来测量一个测量区域的闪烁量。(2)测量者准备一台闪烁测量装置，在变更测量区域的同时通过一台闪烁测量装置来反复测量闪烁量。

根据采用二维成像元件的闪烁测量装置(例如专利文献1)，则无需使用这些方法。

二维成像元件的帧率可被视为采样频率。因此，在二维成像元件的情况下，帧率和采样频率，仅单位不同，值相同。当帧率例如为128fps时，采样频率为128Hz。虽然为了高精度地测量闪烁量，需要增加采样频率，但是，通常的二维成像元件(即不是用于高速照相机的二维成像元件)的帧率(采样频率)较低(例如，60fps、128fps)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2003-254860号公报

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够使用二维成像元件高精度地测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序。

为实现上述目的，反映本发明的一个方面的二维闪烁测量装置为一种测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量的二维闪烁测量装置，具备二维成像元件、设置部、控制部以及计算部。二维成像元件具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能。设置部将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域。控制部通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量。计算部针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量这一处理。

通过以下提供的详细描述以及附图能够充分理解发明的一个或者多个实施方式提供的优点以及特征。这些详细描述以及附图仅作为例子而提供，其意不在限定本发明。

附图说明

图1是示出具有作为测量对象物的屏幕的彩色显示器(DUT)与二维闪烁测量装置的关系的图。

图2是设置有多个测量区域的DUT屏幕的平面示意图。

图3是示出表示一个测量区域的亮度的亮度信号的一例的图表。

图4是描述根据JEITA法的闪烁量测量步骤的说明图。

图5是示出实施方式所涉及的二维闪烁测量装置的结构的框图。

图6是描述使用实施方式所涉及的二维闪烁测量装置来测量设定在DUT屏幕上的多个测量区域各自的闪烁量的动作的流程图。

图7是描述DUT屏幕、二维成像元件的视场以及二维成像元件的摄像区域的关系的一例的说明图。