[发明专利]二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序有效

专利信息
申请号: 201880063611.7 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN111164407B 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 増田敏 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J1/42;G01J1/44;G02F1/13;G09F9/00;H04N5/235
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张雪梅
地址: 日本国东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 二维 闪烁 测量 装置 系统 测量方法 以及 程序
【权利要求书】:

1.一种二维闪烁测量装置,其测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量,具备:

二维成像元件,具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能;

设置部,将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域;

控制部,通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数,使所述二维成像元件使用所述部分读取功能,多次摄像所述测量对象物,获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量;以及

计算部,针对多个所述部分区域中的每一个,基于所获取的所述部分区域的测光量,计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。

2.如权利要求1所述的二维闪烁测量装置,

所述设置部将能够再现具有所述计算部计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率,通过所述设置的所述部分读取的帧率确定所述一部分的尺寸,并将所述摄像区域的尺寸除以所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。

3.如权利要求2所述的二维闪烁测量装置,

所述计算部在对表示所获取的所述部分区域的测光量的信号进行快速傅立叶变换生成功率谱时,将能整除表示所获取的所述部分区域的测光量的信号中,所包含的频率分量的各个频率中的所述关注频率的整数,设为所述功率谱的频率间距。

4.如权利要求2或3所述的二维闪烁测量装置,

所述设置部将所述测量区域设置为与所设置的所述部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸。

5.如权利要求2或3所述的二维闪烁测量装置,

所述设置部通过在所设置的所述部分读取的帧率下,所述二维成像元件摄像所述测量对象物,测量表示从所述二维成像元件输出的测光量的信号的强度,将所述测量区域设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。

6.如权利要求1~5中任意一项所述的二维闪烁测量装置,

所述二维成像元件具有全局快门功能,

所述控制部进行控制使所述二维成像元件使用所述全局快门功能,以所述多次摄像所述测量对象物。

7.一种二维闪烁测量系统,其测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量,具备:

照相机,包括具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件;

设置部,将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域;

控制部,通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数,使所述二维成像元件使用所述部分读取功能,多次摄像所述测量对象物,获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量;以及

计算部,针对多个所述部分区域中的每一个,基于所获取的所述部分区域的测光量,计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。

8.一种二维闪烁测量方法,其使用具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能的二维成像元件,测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量,具备:

设置步骤,将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域;

控制步骤,通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数,使所述二维成像元件使用所述部分读取功能,多次摄像所述测量对象物,获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量;以及

计算步骤,针对多个所述部分区域中的每一个,基于所获取的所述部分区域的测光量,计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量。

9.如权利要求8所述的二维闪烁测量方法,

在所述设置步骤中,将能够再现具有通过所述计算步骤计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率,通过所述设置的所述部分读取的帧率确定所述一部分的尺寸,并将所述摄像区域的尺寸除以所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。

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