[发明专利]有源矩阵基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201880042329.0 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN110800111B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 美崎克纪 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G09F9/00;G09F9/30;H01L27/144;H01L29/786
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;刘宁军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 有源 矩阵 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种有源矩阵基板,是具有像素区域的有源矩阵基板,上述有源矩阵基板的特征在于,具备:

端子部,其与上述像素区域连接;

保护环,其设置于上述端子部的周围;以及

连接部,其将上述端子部与上述保护环之间连接,

上述像素区域、上述端子部以及上述保护环各自具有:

第1导电层,其至少层叠有第1金属膜和电阻比上述第1金属膜的电阻低的第2金属膜;

第1保护层,其配置成与上述第1导电层的至少一部分重叠;以及

第2保护层,其配置于上述第1保护层之上,

上述像素区域还具有设置于上述第1保护层的上层的第2导电层,

上述连接部具有:

上述第1金属膜;以及

上述第2保护层,其配置于上述第1金属膜之上,

上述端子部和上述保护环中的上述第1导电层的上述连接部侧的端部配置于比上述第1保护层的上述连接部侧的端部靠内侧的位置,

上述第2导电层和上述第2金属膜包含能用相同的蚀刻液进行蚀刻的材料。

2.根据权利要求1所述的有源矩阵基板,

上述端子部还具有与上述第1导电层连接的上述第2导电层。

3.根据权利要求1所述的有源矩阵基板,

上述像素区域和上述端子部还在上述第1导电层之上具有第3导电层,

在上述端子部中,上述第3导电层配置成与上述第1导电层重叠,

上述第3导电层包含与上述第2导电层相比相对于上述蚀刻液的蚀刻速率较低的材料。

4.一种制造方法,是制造有源矩阵基板的方法,上述有源矩阵基板具有:基板上的像素区域;端子部,其设置于上述像素区域的外侧的第1区域,与上述像素区域连接;保护环,其设置于上述第1区域的外侧的第2区域;以及连接部,其设置于上述第1区域与上述第2区域之间的第3区域,将上述端子部与上述保护环之间连接,上述制造方法的特征在于,包含如下工序:

在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,形成至少层叠有第1金属膜和电阻比上述第1金属膜的电阻低的第2金属膜的第1导电层;

在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,在上述第1导电层之上形成第1保护层;

在上述像素区域和上述第3区域中,形成上述第1保护层的开口;

在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,在上述第1保护层的上层形成第2导电层,然后对上述第2导电层进行蚀刻;以及

在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,在上述第1保护层的上层形成第2保护层,

上述第2导电层和上述第2金属膜包含能用相同的蚀刻液进行蚀刻的材料,

至少上述第2区域和上述第3区域中的上述第2导电层通过上述蚀刻被除去,

在上述第3区域中,上述保护层的开口位置处的上述第1导电层中的、上述第2金属膜通过上述蚀刻被除去,而使上述第1金属膜残存,

在上述第1区域和上述第2区域中,上述第1导电层的上述第3区域侧的端部的位置配置于比上述保护层的上述第3区域侧的端部靠内侧的位置。

5.根据权利要求4所述的制造方法,

在上述蚀刻的工序中,上述第1区域中的上述第2导电层不被除去,上述第1区域具有与上述第1导电层连接的上述第2导电层。

6.根据权利要求4所述的制造方法,

还包含如下工序:在形成上述第1保护层的开口后,在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域形成第3导电层,对上述第3导电层进行蚀刻,

上述像素区域和上述第1区域在上述第1导电层的上层具备上述第3导电层,在上述第1区域中,上述第3导电层与上述第1导电层连接,

上述第3导电层包含与上述第2导电层相比相对于上述蚀刻液的蚀刻速率较低的材料。

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