[发明专利]有源矩阵基板及其制造方法有效
| 申请号: | 201880042329.0 | 申请日: | 2018-06-26 |
| 公开(公告)号: | CN110800111B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
| 发明(设计)人: | 美崎克纪 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G09F9/00;G09F9/30;H01L27/144;H01L29/786 |
| 代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝;刘宁军 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 有源 矩阵 及其 制造 方法 | ||
1.一种有源矩阵基板,是具有像素区域的有源矩阵基板,上述有源矩阵基板的特征在于,具备:
端子部,其与上述像素区域连接;
保护环,其设置于上述端子部的周围;以及
连接部,其将上述端子部与上述保护环之间连接,
上述像素区域、上述端子部以及上述保护环各自具有:
第1导电层,其至少层叠有第1金属膜和电阻比上述第1金属膜的电阻低的第2金属膜;
第1保护层,其配置成与上述第1导电层的至少一部分重叠;以及
第2保护层,其配置于上述第1保护层之上,
上述像素区域还具有设置于上述第1保护层的上层的第2导电层,
上述连接部具有:
上述第1金属膜;以及
上述第2保护层,其配置于上述第1金属膜之上,
上述端子部和上述保护环中的上述第1导电层的上述连接部侧的端部配置于比上述第1保护层的上述连接部侧的端部靠内侧的位置,
上述第2导电层和上述第2金属膜包含能用相同的蚀刻液进行蚀刻的材料。
2.根据权利要求1所述的有源矩阵基板,
上述端子部还具有与上述第1导电层连接的上述第2导电层。
3.根据权利要求1所述的有源矩阵基板,
上述像素区域和上述端子部还在上述第1导电层之上具有第3导电层,
在上述端子部中,上述第3导电层配置成与上述第1导电层重叠,
上述第3导电层包含与上述第2导电层相比相对于上述蚀刻液的蚀刻速率较低的材料。
4.一种制造方法,是制造有源矩阵基板的方法,上述有源矩阵基板具有:基板上的像素区域;端子部,其设置于上述像素区域的外侧的第1区域,与上述像素区域连接;保护环,其设置于上述第1区域的外侧的第2区域;以及连接部,其设置于上述第1区域与上述第2区域之间的第3区域,将上述端子部与上述保护环之间连接,上述制造方法的特征在于,包含如下工序:
在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,形成至少层叠有第1金属膜和电阻比上述第1金属膜的电阻低的第2金属膜的第1导电层;
在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,在上述第1导电层之上形成第1保护层;
在上述像素区域和上述第3区域中,形成上述第1保护层的开口;
在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,在上述第1保护层的上层形成第2导电层,然后对上述第2导电层进行蚀刻;以及
在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域中,在上述第1保护层的上层形成第2保护层,
上述第2导电层和上述第2金属膜包含能用相同的蚀刻液进行蚀刻的材料,
至少上述第2区域和上述第3区域中的上述第2导电层通过上述蚀刻被除去,
在上述第3区域中,上述保护层的开口位置处的上述第1导电层中的、上述第2金属膜通过上述蚀刻被除去,而使上述第1金属膜残存,
在上述第1区域和上述第2区域中,上述第1导电层的上述第3区域侧的端部的位置配置于比上述保护层的上述第3区域侧的端部靠内侧的位置。
5.根据权利要求4所述的制造方法,
在上述蚀刻的工序中,上述第1区域中的上述第2导电层不被除去,上述第1区域具有与上述第1导电层连接的上述第2导电层。
6.根据权利要求4所述的制造方法,
还包含如下工序:在形成上述第1保护层的开口后,在上述像素区域、上述第1区域、上述第2区域以及上述第3区域形成第3导电层,对上述第3导电层进行蚀刻,
上述像素区域和上述第1区域在上述第1导电层的上层具备上述第3导电层,在上述第1区域中,上述第3导电层与上述第1导电层连接,
上述第3导电层包含与上述第2导电层相比相对于上述蚀刻液的蚀刻速率较低的材料。
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