[发明专利]应力测定方法

权利要求书

1.一种应力测定方法，其对由金属构成的被检查体的应力进行测定，其中，

所述应力测定方法包括：

检测工序，使X射线从能够照射X射线的照射部向所述被检查体入射，并且利用二维检测器对所述X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线的衍射环进行检测；以及

计算工序，基于所述检测工序的检测结果来计算所述被检查体的应力，

在所述检测工序中，在将所述照射部以所述X射线向所述被检查体入射的入射角处于5°以上且20°以下的范围内的方式相对于所述被检查体倾斜的状态下，使X射线从该照射部分别向所述被检查体的多个部位入射，并且利用所述二维检测器对各X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射环进行检测，

在所述检测工序中，以使所述X射线向所述被检查体照射的照射面积的合计为所述被检查体的晶粒的面积的15000倍以上的方式使所述X射线向所述被检查体入射。

2.根据权利要求1所述的应力测定方法，其中，

在所述检测工序中，作为所述多个部位，选择所述被检查体中的连续相连的部位，使X射线连续对该部位入射。

3.根据权利要求2所述的应力测定方法，其中，

在所述检测工序中，使X射线连续对所述连续相连的部位入射，并且利用所述二维检测器对通过将由各X射线在所述部位衍射而形成的多个衍射环重叠而得到的单一衍射环进行检测。

4.根据权利要求1所述的应力测定方法，其中，

在所述检测工序中，作为所述被检查体，使用具有如下那样的形状的物体：与以从所述照射部照射的X射线向该被检查体入射的入射角大于25°的方式相对于所述被检查体倾斜了的所述照射部或者从该照射部照射出的X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线发生干涉，并且，与以所述X射线向该被检查体入射的入射角为25°以下的方式相对于所述被检查体倾斜了的所述照射部或者从该照射部照射出的X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线分离。

5.一种应力测定方法，其对由金属构成的被检查体的应力进行测定，其中，

所述应力测定方法包括：

检测工序，使X射线从能够照射X射线的照射部向所述被检查体入射，并且利用二维检测器对所述X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线的衍射环进行检测；以及

计算工序，基于所述检测工序的检测结果来计算所述被检查体的应力，

在所述检测工序中，使X射线以包括从5°以上且20°以下的范围选择的特定的入射角且彼此不同的多个入射角从所述照射部向所述被检查体的特定的部位入射，并且利用所述二维检测器对各X射线在所述特定的部位衍射而形成的衍射环进行检测，

在所述检测工序中，以使所述X射线向所述被检查体照射的照射面积的合计为所述被检查体的晶粒的面积的15000倍以上的方式使所述X射线向所述被检查体入射。

6.根据权利要求5所述的应力测定方法，其中，

在所述检测工序中，所述多个入射角从如下范围选择，该范围将所述特定的入射角作为下限值且将相对于所述特定的入射角增加了规定角度的入射角作为上限值。

7.根据权利要求5所述的应力测定方法，其中，

在所述检测工序中，作为所述被检查体，使用具有如下那样的形状的物体：与以从所述照射部照射的X射线向该被检查体入射的入射角大于25°的方式相对于所述被检查体倾斜了的所述照射部或者从该照射部照射出的X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线发生干涉，并且，与以所述X射线向该被检查体入射的入射角为25°以下的方式相对于所述被检查体倾斜了的所述照射部或者从该照射部照射出的X射线在所述被检查体衍射而形成的衍射X射线分离。