[发明专利]成像装置和监控装置

说明书

[问题]提供一种成像装置和监控装置，其能够对使用单个测距相机难以直接测量的对象区域进行精确的距离和形状测量。[解决方案]提供了一种成像装置，包括：传感器单元，用于将光照射到对象上并检测由对象反射的光；距离计算单元，用于基于来自传感器单元的感测数据来计算到对象的距离；镜面反射器，其位于对象与传感器单元相对的一侧；以及校正单元，用于校正包括在计算的距离中并且由沿着从传感器单元到对象的第一路径行进的光和沿着从传感器单元通过镜面反射器处的反射到对象的第二路径行进的光之间的干涉引起的误差。

技术领域

本公开涉及一种成像装置和一种监控装置。

背景技术

已知一种向对象发射红外光等并接收由对象反射的红外光以测量到对象的距离或对象的表面形状的测距相机。这种测距相机的实例包括下面专利文献1中公开的技术。

顺便说一下，当试图用测距相机测量对象时，可能存在不能由一个测距相机测量的区域，具体地，由于对象本身的阻挡等而不能直接测量的背面。在这种情况下，可以设想使用一个测距相机和镜面反射器组合来测量对象等的背面。作为这样的方法，例如，可以引用下面专利文献2中公开的技术。

引用列表

专利文献

专利文献1：日本专利申请公开号2012-57960

专利文献2：日本PCT国家公开号2012-509470

发明内容

本发明要解决的问题

顺便提及，在使用镜面反射器测量对象的情况下，有两条光路。第一路径中的光从测距相机到达对象、被对象直接反射并返回到测距相机。同时，第二路径中的光从测距相机到达镜面反射器、被镜面反射器反射到达对象，并且进一步在同一路径中经由镜面反射器从对象返回到测距相机。除此之外，根据对象的形状，来自这两条不同路径的光可能在对象的同一点(表面)上发生干涉(这种现象称为多径干涉)。在某些情况下，由于接收到干涉光，测距相机可能无法正确测量对象的距离和形状。然而，由于专利文献2中公开的技术没有考虑如上所述的多径干涉来测量对象，所以难以精确测量对象的距离和形状。

因此，鉴于前述内容，本公开提出了新型改进的成像装置和监控装置，其能够精确测量难以由一个测距相机直接测量的对象区域的距离和形状。

问题的解决方案

根据本公开，提供了一种成像装置，包括：传感器单元，其被配置为用光照射对象并检测由对象反射的光；距离计算单元，其被配置为基于传感器单元的感测数据计算到对象的距离；镜面反射器，其位于对象上的传感器单元的相对侧；以及校正单元，被配置为校正包括在所计算的距离中的误差，所述误差是由沿着从传感器单元朝向对象的第一路径的光和沿着从传感器单元由镜面反射器反射而朝向对象的第二路径的光之间的干涉引起的。

此外，根据本公开，提供了一种成像装置，包括：传感器单元，其被配置为用光照射对象并检测由对象反射的光；距离计算单元，其被配置为基于传感器单元的感测数据计算到对象的距离；以及校正单元，被配置为校正包括在所计算的距离中的误差，所述误差是由沿着从所述传感器单元朝向所述对象的第一路径的光和沿着从所述传感器单元由镜面反射器反射而朝向所述对象的第二路径的光之间的干涉引起的，所述镜面反射器隔着所述对象位于所述传感器单元的相对侧。

此外，根据本公开，提供了一种安装有成像装置的监控装置，所述成像装置包括：传感器单元，其被配置为用光照射对象并检测由对象反射的光；距离计算单元，其被配置为基于传感器单元的感测数据计算到对象的距离；以及校正单元，被配置为校正包括在所计算的距离中的误差，所述误差是由沿着从所述传感器单元朝向所述对象的第一路径的光和沿着从所述传感器单元由镜面反射器反射而朝向所述对象的第二路径的光之间的干涉引起的，所述镜面反射器隔着所述对象位于所述传感器单元的相对侧。

本发明的效果