[发明专利]显示装置

说明书

显示装置包括：多个源极线；多个栅极线；源极驱动器；栅极驱动器；多个像素晶体管，所述多个像素晶体管与各所述源极线及各所述栅极线电连接；监视晶体管，所述监视晶体管的漏电极与第一外部端子电连接，栅电极与第二外部端子电连接，源电极与第三外部端子电连接；基准晶体管，所述基准晶体管的漏电极与第四外部端子电连接，栅电极与第五外部端子电连接，源电极与第六外部端子电连接；以及检测部，其与所述第三外部端子及所述第六外部端子电连接，用于检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量。

技术领域

本发明涉及一种显示装置。

背景技术

在液晶显示装置等显示装置中，使用薄膜晶体管(TFT；Thin Film Transistor)来作为开关元件。以往以来，已知薄膜晶体管的阈值电压(Vth)根据温度环境、使用时间、施加电压等的变化而发生偏移。当薄膜晶体管的阈值电压发生偏移时，开关动作变得不稳定，从而招致显示质量降低。因此，提出了对薄膜晶体管的阈值电压进行检测并校正阈值电压的技术(例如，参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：美国专利第6229506号公报

发明内容

发明要解决的问题

但是，在上述现有技术中，为了检测阈值电压，需要在玻璃基板上形成由多个薄膜晶体管构成的检测电路，因此产生电路结构复杂化的问题。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能够通过简单的结构来检测薄膜晶体管的阈值电压的偏移量的显示装置。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题，本发明所涉及的显示装置的特征在于，包括：多个源极线；多个栅极线；源极驱动器，其向所述多个源极线中的各个源极线提供数据信号；栅极驱动器，其向所述多个栅极线中的各个栅极线提供栅极信号；多个像素晶体管，所述多个像素晶体管与各所述源极线及各所述栅极线电连接；监视晶体管，所述监视晶体管的漏电极的引出布线与第一外部端子电连接，栅电极的引出布线与第二外部端子电连接，源电极的引出布线与第三外部端子电连接；基准晶体管，所述基准晶体管的漏电极的引出布线与第四外部端子电连接，栅电极的引出布线与第五外部端子电连接，源电极的引出布线与第六外部端子电连接；以及检测部，其与所述第三外部端子及所述第六外部端子电连接，用于检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量。

在本发明所涉及的显示装置中，也可以是，包括显示图像的第一模式和检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量的第二模式，在所述第一模式中，对所述监视晶体管的所述漏电极施加所述数据信号，对所述监视晶体管的所述栅电极施加所述栅极信号，将所述基准晶体管的所述漏电极及所述栅电极的引出布线与恒压源连接，在所述第二模式中，对所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的所述漏电极施加规定的电压，将所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的所述栅电极的引出布线与恒压源连接，所述检测部基于所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的漏极电流来检测所述偏移量。

在本发明所涉及的显示装置中，也可以是，还包括控制部，所述控制部基于所述偏移量来对所述多个像素晶体管施加校正电压，在所述偏移量大于第一基准电压的情况下，所述控制部对所述多个像素晶体管各自的栅电极施加所述校正电压。

在本发明所涉及的显示装置中，也可以是，所述偏移量越大，则所述控制部将所述校正电压的施加期间设定得越长。

在本发明所涉及的显示装置中，也可以是，所述校正电压的信号波形是在上升期间和下降期间是倾斜的波形。