[发明专利]显示装置有效
申请号: | 201880020498.4 | 申请日: | 2018-01-31 |
公开(公告)号: | CN110476201B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 河内玄士朗;天野邦晶;桶隆太郎;梶田大介 | 申请(专利权)人: | 松下液晶显示器株式会社 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36;G02F1/133;G02F1/1343;G02F1/1368;G09G3/20 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 | ||
1.一种显示装置,其特征在于,包括:
多个源极线;
多个栅极线;
源极驱动器,其向所述多个源极线中的各个源极线提供数据信号;
栅极驱动器,其向所述多个栅极线中的各个栅极线提供栅极信号;
多个像素晶体管,所述多个像素晶体管与各所述源极线及各所述栅极线电连接;
监视晶体管,所述监视晶体管的漏电极的引出布线与第一外部端子电连接,栅电极的引出布线与第二外部端子电连接,源电极的引出布线与第三外部端子电连接;
基准晶体管,所述基准晶体管的漏电极的引出布线与第四外部端子电连接,栅电极的引出布线与第五外部端子电连接,源电极的引出布线与第六外部端子电连接;以及
检测部,其与所述第三外部端子及所述第六外部端子电连接,用于检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量,
所述显示装置包括显示图像的第一模式和检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量的第二模式,
在所述第一模式中,对所述监视晶体管的所述漏电极施加所述数据信号,对所述监视晶体管的所述栅电极施加所述栅极信号,将所述基准晶体管的所述漏电极及所述栅电极的引出布线与恒压源连接,
在所述第二模式中,对所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的所述漏电极施加规定的电压,将所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的所述栅电极的引出布线与恒压源连接,所述检测部基于所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的漏极电流来检测所述偏移量。
2.一种显示装置,其特征在于,包括:
多个源极线;
多个栅极线;
源极驱动器,其向所述多个源极线中的各个源极线提供数据信号;
栅极驱动器,其向所述多个栅极线中的各个栅极线提供栅极信号;
多个像素晶体管,所述多个像素晶体管与各所述源极线及各所述栅极线电连接;
监视晶体管,所述监视晶体管的漏电极的引出布线与第一外部端子电连接,栅电极的引出布线与第二外部端子电连接,源电极的引出布线与第三外部端子电连接;
基准晶体管,所述基准晶体管的漏电极的引出布线与第四外部端子电连接,栅电极的引出布线与第五外部端子电连接,源电极的引出布线与第六外部端子电连接;以及
检测部,其与所述第三外部端子及所述第六外部端子电连接,用于检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量,
所述显示装置包括显示图像的第一模式和检测所述监视晶体管的阈值电压的偏移量的第二模式,
在所述第一模式中,对所述监视晶体管的所述漏电极施加所述数据信号,对所述监视晶体管的所述栅电极施加所述栅极信号,将所述基准晶体管的所述漏电极及所述栅电极的引出布线与恒压源连接,
在所述第二模式中,将所述监视晶体管的所述漏电极与所述栅电极彼此电连接并且将所述监视晶体管的所述漏电极及所述栅电极与恒流源电连接,将所述基准晶体管的所述漏电极与所述栅电极彼此电连接并且将所述基准晶体管的所述漏电极及所述栅电极与所述恒流源电连接,所述检测部基于所述监视晶体管和所述基准晶体管各自的漏极电压来检测所述偏移量。
3.根据权利要求1或2所述的显示装置,其特征在于,
还包括控制部,所述控制部基于所述偏移量来对所述多个像素晶体管施加校正电压,
在所述偏移量大于第一基准电压的情况下,所述控制部对所述多个像素晶体管各自的栅电极施加所述校正电压。
4.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,
所述偏移量越大,则所述控制部将所述校正电压的施加期间设定得越长。
5.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,
所述校正电压的信号波形是在上升期间和下降期间倾斜的波形。
6.根据权利要求3所述的显示装置,其特征在于,
在所述偏移量大于第一基准电压的情况下,所述控制部向所述源极驱动器和所述栅极驱动器输出控制信号,
所述源极驱动器当接收到所述控制信号时,在规定期间向各所述源极线输出共用电压,
所述栅极驱动器当接收到所述控制信号时,在所述规定期间向各所述栅极线输出所述校正电压。
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