[发明专利]纺织品的脏污和/或至少一部分的性质的检测

权利要求书

1.由一个或多个设备执行的方法，该方法包括：

-获得表示由纺织品(304)的脏污(302)和/或纺织品(304)的至少一部分产生的光谱图像(200)的强度信息项；

-由取决于所述纺织品(304)的脏污(302)和/或所述纺织品(304)的至少一种性质的所述强度信息项确定至少一个输出变量，其中，所述输出变量通过自适应评估算法——特别是人工神经网络——确定，其中所述自适应评估算法的参数基于多个训练案例校准；

-输出所述至少一个输出变量或触发所述至少一个输出变量的输出。

2.如权利要求1所述的方法，其中获得强度信息项的过程包括以下步骤：

(i)用包括至少一个宽频波长范围的光照射所述纺织品(304)的脏污(302)和/或所述纺织品(304)的至少一部分；

(ii)检测经照射的纺织品(304)的脏污(302)和/或经照射的纺织品(304)的至少一部分的图像信息项；

(iii)至少确定反射信息项(210,212)，所述反射信息项表示来自与至少一个宽频波长对应的图像信息项的波长通道的反射光；

(iv)重建光谱图像(200)，其中进行至少一个反射信息项(210,212)的评估。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述纺织品(304)的脏污(302)和/或所述纺织品(304)的至少一部分的照射利用以下宽频波长范围之一进行：

(i)约600nm至约780nm；

(ii)约490nm至约600nm；

(iii)约380nm至约490nm；

(iv)或它们的组合。

4.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中，将所述光谱图像(200)中的至少一个图像点用作用于图像的光谱曝光补偿的固定的预定参考图像点，其中使用至少其参考图像点的图像数据将所述图像中与所述至少一个参考图像点不同的图像点的图像数据归一化。

5.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述纺织品(304)的至少一部分表示纺织品(304)的材料结构、材料类型、材料分布、材料磨损或它们的组合。

6.如前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法还包括：

-至少部分地基于所述强度信息项来确定所述纺织品(304)的至少一个处理参数；和

-输出所述至少一个处理参数或触发所述至少一个处理参数的输出。

7.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述至少一个处理参数表示清洁剂类型、清洁剂的量、清洁温度、清洁设备的类型、清洁设备的设置或它们的组合。

8.如前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法还包括：

-通过至少一个处理设备——特别是清洁设备(320)——执行或引发执行与至少一个所确定的处理参数相对应的所述纺织品(304)的处理。

9.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述强度信息项在所述纺织品(304)的处理之前、之时和/或之后确定。

10.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中使用至少一个光学传感器元件(310,332)来确定所述强度信息项。

11.如权利要求10所述的方法，其中所述光学传感器元件(310,332)提供三维空间解析。

12.如权利要求10或权利要求11所述的方法，其中，所述至少一个光学传感器元件(310,332)包括至少一个类似相机的元件，并提供所述纺织品(304)的脏污(302)和/或所述纺织品(304)的至少一部分的图像信息项。

13.设备，其被配置为或包括用于执行和/或控制权利要求1至12中任一项所述的方法的相应单元。