[发明专利]用于确定至少一个电子开关元件的温度的方法和电子组件

说明书

本发明涉及一种用于借助温度测量电路确定至少一个电子开关元件(16)的温度的方法。首先，阻断电子模块(12)的第一电子开关元件(14)并且导通电子模块(12)的第二电子开关元件(16)。然后，将电压测量单元(20)与电子模块(12)耦联并且测量第二电子开关元件(16)上的电压降。另外，确定流过第二电子开关元件(16)的电流的电流强度并且通过考虑测量的电压降和确定的电流强度确定第二电子开关元件(16)的温度。此外，还描述了一种用于确定至少一个电子开关元件(16)的温度的电子组件(10)。

技术领域

本发明涉及一种用于确定至少一个电子开关元件的温度的方法以及一种用于确定至少一个电子开关元件的温度的电子组件。

背景技术

在电路或电子组件中使用的电子开关元件在运行期间发生电功率方面的开关损耗和欧姆损耗。这些损耗转换为热量，使得电子开关元件的温度升高。

在高负载和/或快速切换的电子开关元件中监控温度尤为重要，因为过高的温度会影响或损伤开关元件。在最坏的情况下甚至可发生相应开关元件的失效。

在用于测量电子开关元件的温度的常见方法中，在电子开关元件附近安装温度相关电阻器。为了确定电子开关元件的温度，确定温度相关电阻器的欧姆电阻，由欧姆电阻可导出电子开关元件的温度。

但以这种方式不能在对于功能至关重要的内部区域、而只能在该区域之外测量电子开关元件的温度。由于在电子开关元件的内部区域和外部区域之间可能存在大的温差，因而温度测量结果可能仅具有有限的效力。

特别是在设置用于电路或电子组件、尤其是电子开关元件的冷却器时是这种情况。开关元件于是受到外部区域中的冷却器冷却，而开关元件的内部区域则可能存在更高的温度。在这种情况下，在通过单独构造的温度相关电阻器的测量中确定的温度要低于实际存在于开关元件内部区域中的温度，因为单独构造的温度相关电阻器也受到冷却器冷却。

发明内容

本发明的任务在于提供一种方法和组件，借助该方法或组件可更精确地确定电子开关元件的温度。

所述任务根据本发明通过一种用于借助温度测量电路确定至少一个电子开关元件的温度的方法来解决，所述温度测量电路包括至少一个具有第一电子开关元件和第二电子开关元件的电子模块，所述电子开关元件被构造成，使得它们在第一开关状态中阻断一个方向上的电流，所述方法包括下述步骤：

a)阻断第一电子开关元件并且导通第二电子开关元件，

b)将电压测量单元与电子模块耦联，

c)测量第二电子开关元件上的电压降，

d)确定流过第二电子开关元件的电流的电流强度，并且

e)通过考虑测量的电压降和确定的电流强度来确定第二电子开关元件的温度。

在上述步骤c)期间，在第二电子开关元件上仅产生小的电压降。尤其是这样设计电压测量单元，使得其以希望的精度分辨第二电子开关元件上的电压降。

当在步骤a)中通过阻断第一电子开关元件使第二电子开关元件与中间电路电压分离之后，电压测量单元才与电子模块耦联。因此电压测量单元无需按照中间电路电压的数量级设计，从而只需能足够精确地测量第二电子开关元件上的电压降。

根据一个方面，设置电子开关单元，该电子开关单元被构造成，使得电子开关单元在第一开关状态中阻断一个方向上的电流，其中，导通该电子开关单元，以便连接电压测量单元与电子模块。以这种方式电压测量单元可特别简单地、尤其是通过电控制脉冲与电子模块方式耦联。此外，通过电子开关单元确保电压测量单元可快速地与电子模块分离，从而可保护电压测量单元免受过大电压、如中间电路电压。