[实用新型]一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统有效
申请号: | 201822275820.8 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN209624393U | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 张建红;王红球 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张启程 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被检物 反斯托克斯光 波长 荧光 分光镜 拉曼检测系统 本实用新型 激光 荧光干扰 激光器 透射 光谱仪接收 光谱仪 光谱分析 拉曼光谱 拉曼信号 波段 反射 采集 | ||
本实用新型公开了一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,包括:激光器;分光镜,定位成将来自所述激光器的激光向被检物反射,并仅允许来自所述被检物的反斯托克斯光透射通过所述分光镜;以及光谱仪,所述光谱仪接收来自所述被检物且透射通过所述分光镜的反斯托克斯光,并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物的拉曼光谱,本实用新型通过被检物的反斯托克斯光来识别被检物,由于采集到的被检物的反斯托克斯光的波长小于激光的波长,而荧光的波长大于激光的波长,被检物的反斯托克斯光与荧光在不同波段,二者没有重叠,故荧光不会对被检物的反斯托克斯拉曼信号产生影响,从而就消除了荧光的干扰。
技术领域
本实用新型涉及一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统。
背景技术
当一定频率的激光照射在物质上时,物质被激光激发以后会产生斯托克斯散射线和反斯托克斯散射线。其中,斯托克斯散射线是频率比激光频率低的、波长比激光长的变散射线,反斯托克斯散射线是频率比激光频率高的、波长比激光短的变散射线。斯托克斯散射线和反斯托克斯散射线均具有可以用于识别物质的指纹特征。
采用拉曼光谱对物质进行检测时,通常采用的是斯托克斯散射线,利用斯托克斯射线的指纹特征对物质进行识别。不过,斯托克斯散射线的产生往往会同时伴随着荧光的产生。斯托克斯散射线的波长大于激光的波长,荧光的波长也大于激光的波长,因此在采用斯托克斯散射线对物质进行拉曼检测时,常常会受到荧光的干扰,并且由于荧光信号远远高于斯托克斯散射线的拉曼信号,导致很多物质由于荧光干扰而无法进行精确地检测。
实用新型内容
本实用新型的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。
本实用新型提供一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,该用于消除荧光干扰的拉曼检测系统通过被检物的反斯托克斯信号来识别被检物,可以消除荧光对被检物的拉曼信号的影响。
根据本实用新型的一个方面,提供一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,包括:激光器;分光镜,定位成将来自所述激光器的激光向被检物反射,并仅允许来自所述被检物的反斯托克斯光透射通过所述分光镜;以及光谱仪,所述光谱仪接收来自所述被检物且透射通过所述分光镜的反斯托克斯光,并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物的拉曼光谱。
根据本实用新型的一个实施例,用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括反射镜,所述反射镜定位成将来自所述激光器的激光反射至所述分光镜。
根据本实用新型的另一个实施例,所述分光镜设置在所述激光器的直射光路上,所述被检物设置在所述分光镜的反射光路上,所述光谱仪设置在所述分光镜的透射光路上。
根据本实用新型的另一个实施例,所述反射镜设置在所述激光器的直射光路上,所述分光镜设置在所述反射镜的反射光路上,所述被检物设置在所述分光镜的反射光路上,所述光谱仪设置在所述分光镜的透射光路上。
根据本实用新型的另一个实施例,用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括探头,所述激光器将激光传送给所述探头,以便所述探头使激光照射到所述分光镜上,并通过所述分光镜将激光反射至所述被检物上以激发出所述被检物的反斯托克斯光,所述探头收集来自所述被检物并透射通过所述分光镜的反斯托克斯光,并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪。
根据本实用新型的另一个实施例,用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括探头,所述激光器将激光传送给所述探头,以便所述探头使激光照射到所述反射镜上,并依次通过所述反射镜和所述分光镜将激光反射至所述被检物上以激发出所述被检物的反斯托克斯光,所述探头收集来自所述被检物并透射通过所述分光镜的反斯托克斯光,并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪。
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