[实用新型]一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统有效

专利信息
申请号: 201822275820.8 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN209624393U 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 张建红;王红球 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张启程
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 被检物 反斯托克斯光 波长 荧光 分光镜 拉曼检测系统 本实用新型 激光 荧光干扰 激光器 透射 光谱仪接收 光谱仪 光谱分析 拉曼光谱 拉曼信号 波段 反射 采集
【权利要求书】:

1.一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,包括:

激光器(1);

分光镜(3),定位成将来自所述激光器(1)的激光向被检物(4)反射,并仅允许来自所述被检物(4)的反斯托克斯光透射通过所述分光镜(3);以及

光谱仪(5),所述光谱仪(5)接收来自所述被检物(4)且透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光,并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物(4)的拉曼光谱。

2.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,还包括反射镜(2),所述反射镜(2)定位成将来自所述激光器(1)的激光反射至所述分光镜(3)。

3.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,所述分光镜(3)设置在所述激光器(1)的直射光路上,所述被检物(4)设置在所述分光镜(3)的反射光路上,所述光谱仪(5)设置在所述分光镜(3)的透射光路上。

4.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,所述反射镜(2)设置在所述激光器(1)的直射光路上,所述分光镜(3)设置在所述反射镜(2)的反射光路上,所述被检物(4)设置在所述分光镜(3)的反射光路上,所述光谱仪(5)设置在所述分光镜(3)的透射光路上。

5.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,还包括探头(6),所述激光器(1)将激光传送给所述探头(6),以便所述探头(6)使激光照射到所述分光镜(3)上,并通过所述分光镜(3)将激光反射至所述被检物(4)上以激发出所述被检物(4)的反斯托克斯光,所述探头(6)收集来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光,并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪(5)。

6.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,还包括探头(6),所述激光器(1)将激光传送给所述探头(6),以便所述探头(6)使激光照射到所述反射镜(2)上,并依次通过所述反射镜(2)和所述分光镜(3)将激光反射至所述被检物(4)上以激发出所述被检物(4)的反斯托克斯光,所述探头(6)收集来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光,并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪(5)。

7.根据权利要求5或6所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,所述探头(6)还包括导入光纤(7)和收集光纤(8),或者拉曼检测系统还包括与所述探头(6)分开设置的导入光纤(7)和收集光纤(8),

其中,所述激光器(1)通过所述导入光纤(7)将激光传送到所述探头(6)内部,所述反斯托克斯光通过所述收集光纤(8)传送给所述光谱仪(5)。

8.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,还包括第一透镜(9)和第二透镜(10),所述第一透镜(9)设置在所述激光器(1)的直射光路上,所述第二透镜(10)设置在所述分光镜(3)的反射光路上,激光经过所述第一透镜(9)成为平行光并照射至所述分光镜(3)上,经所述分光镜(3)反射的平行光经过所述第二透镜(10)聚焦到所述被检物(4)上。

9.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统,其特征在于,还包括第一透镜(9)和第二透镜(10),所述第一透镜(9)设置在所述激光器(1)的直射光路上,所述第二透镜(10)设置在所述分光镜(3)的反射光路上,激光经过所述第一透镜(9)成为平行光并照射至所述反射镜(2)上,所述反射镜(2)将所述平行光反射至所述分光镜(3)上,所述分光镜(3)反射所述平行光并且经所述分光镜(3)反射的平行光经过所述第二透镜(10)聚焦到所述被检物(4)上。

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