[实用新型]延长MOS管使用寿命的保护电路结构有效
申请号: | 201822165266.8 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN209088539U | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 曹骞;王坤;袁德方 | 申请(专利权)人: | 上海市共进通信技术有限公司 |
主分类号: | H02H9/04 | 分类号: | H02H9/04 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁;郑暄 |
地址: | 200235 上海市徐*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电路结构 使用寿命 本实用新型 感应电动势 漏极 瞬态 源极 电路 阻容保护电路 保护器件 反向偏置 控制管脚 正向偏置 阻容放电 断电 | ||
1.一种延长MOS管使用寿命的保护电路结构,其特征在于,所述的电路结构包括RC保护电路,一端与MOS管的漏极相连接,另一端与MOS管的源极相连接;MOS管的栅极与控制管脚相连接;MOS管的漏极正向偏置;MOS管的源极反向偏置。
2.根据权利要求1所述的延长MOS管使用寿命的保护电路结构,其特征在于,所述的RC保护电路包括电阻(R)和电容(C),所述的电阻(R)和电容(C)串联跨接于所述的MOS管的漏极与源极之间。
3.根据权利要求2所述的延长MOS管使用寿命的保护电路结构,其特征在于,所述的电阻(R)的电阻值为KΩ级。
4.根据权利要求2所述的延长MOS管使用寿命的保护电路结构,其特征在于,所述的电容(C)的电容值为pF级。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海市共进通信技术有限公司,未经上海市共进通信技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201822165266.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。