[实用新型]半导体测试机校准装置

说明书

本实用新型公开了半导体测试机校准装置，包括底座，所述底座的顶部开设有通槽，所述通槽内部的两侧均滑动连接有活动杆，所述通槽中部的上方设置有过线套，所述活动杆和过线套之间设置有连接结构，所述底座的顶部且位于通槽的前后两侧均设置有固定结构。本实用新型通过底座、通槽、活动杆、过线套、连接结构、固定结构和引线结构的设置，可以方便对装置进行活动调节，同时解决了在测试通路的损耗时，将功率探头通过射频线与该条通路末端相连，射频线部分处于悬空的自由状态，容易被人为不注意触碰或是外力拉扯，影响测试结果的问题，该半导体测试机校准装置，具备可以对射频线固定的优点，值得推广。

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体为半导体测试机校准装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。

工程师调试半导体测试机程序时有一个校准步骤，用来测量功率在线路中的损耗，然后通过程序对测量出的损耗加以补偿使得测试能顺利完成，在测试通路的损耗时，将功率探头通过射频线与该条通路末端相连，射频线部分处于悬空的自由状态，容易被人为不注意触碰或是外力拉扯，影响测试结果，为此提出一种可以对射频线固定的装置来解决此问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供半导体测试机校准装置，具备可以对射频线固定的优点，解决了在测试通路的损耗时，将功率探头通过射频线与该条通路末端相连，射频线部分处于悬空的自由状态，容易被人为不注意触碰或是外力拉扯，影响测试结果的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：半导体测试机校准装置，包括底座，所述底座的顶部开设有通槽，所述通槽内部的两侧均滑动连接有活动杆，所述通槽中部的上方设置有过线套，所述活动杆和过线套之间设置有连接结构，所述底座的顶部且位于通槽的前后两侧均设置有固定结构，所述底座的正面与背面均设置有引线结构。

优选的，所述底座的两侧均固定连接有安装板，所述安装板的数量为四个，所述安装板的表面开设有安装孔。

优选的，所述连接结构包括连接臂，所述连接臂的一部分位于通槽的内侧，所述连接臂的两端分别固定连接有第一套环和第二套环，所述第一套环位于过线套的外表面并与过线套活动连接，所述第二套环位于活动杆的外表面并与活动杆活动连接。

优选的，所述固定结构包括限位槽，所述限位槽开设在通槽的前后两侧，所述限位槽的内部滑动连接有限位块，所述限位块与活动杆固定连接，所述限位块的表面开设有凹槽，所述底座的顶部设置有定位销，所述定位销的底端贯穿底座并延伸至凹槽的内部。

优选的，所述引线结构包括延伸板，所述延伸板与底座固定连接，所述延伸板的顶部固定连接有固定耳，所述固定耳的数量为若干个，所述延伸板远离底座的一端开设有过线槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过底座、通槽、活动杆、过线套、连接结构、固定结构和引线结构的设置，可以方便对装置进行活动调节，同时解决了在测试通路的损耗时，将功率探头通过射频线与该条通路末端相连，射频线部分处于悬空的自由状态，容易被人为不注意触碰或是外力拉扯，影响测试结果的问题，该半导体测试机校准装置，具备可以对射频线固定的优点，值得推广。