[实用新型]半导体测试机校准装置有效
| 申请号： | 201822161718.5 | 申请日： | 2018-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN209460389U | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 王武林 | 申请（专利权）人： | 捷硕（长泰）电力电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人： | 刘玮 |
| 地址： | 363000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 通槽 底座 半导体测试 校准装置 活动杆 射频线 过线 本实用新型 固定结构 连接结构 影响测试结果 测试通路 滑动连接 活动调节 通路末端 引线结构 自由状态 固定的 探头 触碰 拉扯 悬空 | ||
1.半导体测试机校准装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部开设有通槽(2)，所述通槽(2)内部的两侧均滑动连接有活动杆(3)，所述通槽(2)中部的上方设置有过线套(4)，所述活动杆(3)和过线套(4)之间设置有连接结构(5)，所述底座(1)的顶部且位于通槽(2)的前后两侧均设置有固定结构(6)，所述底座(1)的正面与背面均设置有引线结构(7)。
2.根据权利要求1所述的半导体测试机校准装置，其特征在于：所述底座(1)的两侧均固定连接有安装板(8)，所述安装板(8)的数量为四个，所述安装板(8)的表面开设有安装孔。
3.根据权利要求1所述的半导体测试机校准装置，其特征在于：所述连接结构(5)包括连接臂(51)，所述连接臂(51)的一部分位于通槽(2)的内侧，所述连接臂(51)的两端分别固定连接有第一套环(52)和第二套环(53)，所述第一套环(52)位于过线套(4)的外表面并与过线套(4)活动连接，所述第二套环(53)位于活动杆(3)的外表面并与活动杆(3)活动连接。
4.根据权利要求1所述的半导体测试机校准装置，其特征在于：所述固定结构(6)包括限位槽(61)，所述限位槽(61)开设在通槽(2)的前后两侧，所述限位槽(61)的内部滑动连接有限位块(62)，所述限位块(62)与活动杆(3)固定连接，所述限位块(62)的表面开设有凹槽(63)，所述底座(1)的顶部设置有定位销(64)，所述定位销(64)的底端贯穿底座(1)并延伸至凹槽(63)的内部。
5.根据权利要求1所述的半导体测试机校准装置，其特征在于：所述引线结构(7)包括延伸板(71)，所述延伸板(71)与底座(1)固定连接，所述延伸板(71)的顶部固定连接有固定耳(72)，所述固定耳(72)的数量为若干个，所述延伸板(71)远离底座(1)的一端开设有过线槽(73)。
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