[实用新型]一种高效率芯片外观全面AOI检测设备

说明书

本实用新型旨在提供一种能有效检测微小芯片六个外表面并且具有高精度定位取放和高速运动性能的高效率芯片外观全面AOI检测设备。本实用新型包括机架、显示屏、操作按钮及键盘，它还包括设于机架内部的基座、设于所述基座中部的第一机械手、设于所述基座一端的上料机构、设于所述基座另一端的下料机构、设于所述上料机构上方的第二机械手、设于所述下料机构上方的第三机械手、设于所述第一机械手及所述第二机械手之间的上表面相机模组、设于所述上表面相机模组下方的上表面模组及设于所述上料机构一侧的五面模组。本实用新型应用于芯片AOI检测设备的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片AOI检测设备，特别涉及一种高效率芯片外观全面AOI检测设备。

背景技术

随着人工智能的快速发展，电子行业迅速庞大，对电子元器件的需求和生产效率逐渐提高。目前，对PCB、柔性屏和SMT贴装芯片的外观检测逐步由人工检测转变为机器视觉检测，通过机器视觉进行光学外观自动检测的设备即为AOI检测设备。与传统人工检测相比，AOI检测设备的检测效率更高、检测成本更低，同时检测数据能进行反馈和存档，可靠性更高。

目前，AOI检测设备主要应用于PCB检测领域和平面显示屏检测领域，这些检测产品尺寸相对较大；而对于微小芯片的AOI检测，相应的AOI检测设备应用较少。同时，芯片AOI检测设备主要对芯片进行单面外观检测，主要对一个外表面进行外观检测，存在一定的局限性，不能检测出其余5面的外观质量和贴装质量。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种能有效检测微小芯片六个外表面并且具有高精度定位取放和高速运动性能的高效率芯片外观全面AOI检测设备。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括机架、显示屏、操作按钮及键盘，它还包括设于机架内部的基座、设于所述基座中部的第一机械手、设于所述基座一端的上料机构、设于所述基座另一端的下料机构、设于所述上料机构上方的第二机械手、设于所述下料机构上方的第三机械手、设于所述第一机械手及所述第二机械手之间的上表面相机模组、设于所述上表面相机模组下方的上表面模组及设于所述上料机构一侧的五面模组，所述上表面相机模组、所述第一机械手、所述第二机械手及所述第三机械手均与所述基座滑动连接。

由上述方案可见，所述第一机械手、所述第二机械手及所述第三机械手能实现芯片各个工位的自动搬运，机械手均由直线电机驱动，所述上料机构及所述下料机构实现芯片的料盘自动搬运，综上所述的结构实现了本设备的高精度定位取放和高速运动性能；所述五面模组实现芯片的五个外表面的检测，即四个外侧面及一个底面的外观检测，机械手每次搬运四个芯片至所述五面模组，所述五面模组依次对四个芯片进行检测；所述上表面相机模组可对放置在所述上表面模组上的四个芯片依次进行上表面的外观检测；所以，本实用新型的能实现芯片的自动上下料和AOI检测，能实现芯片的六个面检测，即3D5S检测和MSI检测；本实用新型通过图像处理识别系统和芯片检测系统，能将检测画面和检测参数实时反馈到所述显示屏上，便于掌握本实用新型的实时状况，具有操作便利、高检测精度、高检测效率和良好的人机互动体验的优点。

一个优选方案是，所述第一机械手、所述第二机械手及所述第三机械手均包括两组机械手，所述机械手上设有若干个真空吸嘴。

由上述方案可见，本实用新型采用六组所述机械手进行芯片的自动取放料操作，六组所述机械手均通过直线电机提供动力，每个所述机械手上设有四个真空吸嘴，所述真空吸嘴与外部真空发生器相连通，具有高精度定位取放和高速运动的特点。

一个优选方案是，所述第一机械手上的两组所述机械手分别通过两条平行设置的第一滑轨与所述基座滑动连接。

一个优选方案是，所述上表面模组与所述下料机构之间设有不良品收集区。

由上述方案可见，设置有所述不良品收集区，实现不合格芯片的堆积。