[实用新型]一种高效率芯片外观全面AOI检测设备

权利要求书

1.一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，包括机架（1）、显示屏（2）、操作按钮（3）及键盘（4），其特征在于：它还包括设于机架（1）内部的基座（5）、设于所述基座（5）中部的第一机械手（11）、设于所述基座（5）一端的上料机构（12）、设于所述基座（5）另一端的下料机构（13）、设于所述上料机构（12）上方的第二机械手（14）、设于所述下料机构（13）上方的第三机械手（15）、设于所述第一机械手（11）及所述第二机械手（14）之间的上表面相机模组（16）、设于所述上表面相机模组（16）下方的上表面模组（17）及设于所述上料机构（12）一侧的五面模组（18），所述上表面相机模组（16）、所述第一机械手（11）、所述第二机械手（14）及所述第三机械手（15）均与所述基座（5）滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述第一机械手（11）、所述第二机械手（14）及所述第三机械手（15）均包括两组机械手，所述机械手上设有若干个真空吸嘴。

3.根据权利要求2所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述第一机械手（11）上的两组所述机械手分别通过两条平行设置的第一滑轨（111）与所述基座（5）滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述上表面模组（17）与所述下料机构（13）之间设有不良品收集区（19）。

5.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述上料机构（12）及所述下料机构（13）均包括空料仓（121）、与所述空料仓（121）对称设置的满料仓（122）及设于所述空料仓（121）与所述满料仓（122）之间的导轨（123）。

6.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述上表面相机模组（16）包括直线滑轨（161）、与所述直线滑轨（161）传动连接的上表面相机（162）及与所述上表面相机（162）配合设置的放大镜片（163）。

7.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述上表面模组（17）上设有两个上表面检测工位及与所述上表面检测工位一一对应设置的上表面光源（171），所述上表面检测工位上设有若干个上表面检测凹槽（172）。

8.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述五面模组（18）上设有五面检测凹槽（181），所述五面检测凹槽（181）上设有五个检测相机及五个与所述检测相机一一对应设置的检测光源。

9.根据权利要求1所述的一种高效率芯片外观全面AOI检测设备，其特征在于：所述机架（1）的内部设有电控组件（6），所述第一机械手（11）、所述第二机械手（14）、所述第三机械手（15）、所述上表面相机模组（16）、所述上表面模组（17）及所述五面模组（18）均与所述电控组件（6）电信号连接。