[实用新型]阵列比吸收率测试设备的校准系统

说明书

本实用新型提供一种阵列比吸收率测试设备的校准系统，包括：信号源装置、偶极子天线和待测阵列比吸收率测试设备；其中，所述信号源装置与所述偶极子天线的射频接口连接，所述偶极子天线与所述待测阵列比吸收率测试设备连接；所述信号源装置用于：产生电磁波信号；所述偶极子天线用于：根据所述电磁波信号产生电场；所述待测阵列比吸收率测试设备用于：测量所述偶极子天线产生电场的场强值，所述场强值用来与预设场强值进行比较确定校准因子。该方案可以实现对阵列比吸收率测试设备进行校准。

技术领域

本实用新型涉及SAR测试技术领域，特别涉及一种阵列比吸收率测试设备的校准系统。

背景技术

随着通信行业的迅猛发展，通信设备制式日益复杂，应用环境多种多样。新型的无线设备通常兼容2G、3G和4G，并包含MIMO、载波聚合等新功能；其中一些新型设备所配备的传感器甚至还能根据工作场景自动调整发射功率。这使得设备测试方案的复杂性和测试例都不断增长，导致比吸收率(SAR，Specific Absorption Rate)测试时长可能达到数周甚至数月。为了减少测试时间，阵列比吸收率测试设备开始进入市场并开始广泛应用。此类产品是基于测量电场强度的二极管负载传感器阵列以及基于测量场强和相位的矢量传感器阵列来实现阵列比吸收率测试。但是目前没有对阵列比吸收率测试设备进行校准的方案。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种阵列比吸收率测试设备的校准系统，可以实现对阵列比吸收率测试设备进行校准。

该阵列比吸收率测试设备的校准系统包括：信号源装置、偶极子天线和待测阵列比吸收率测试设备；

其中，所述信号源装置与所述偶极子天线的射频接口连接，所述偶极子天线与所述待测阵列比吸收率测试设备连接；

所述信号源装置用于：产生电磁波信号；

所述偶极子天线用于：根据所述电磁波信号产生电场；

所述待测阵列比吸收率测试设备用于：测量所述偶极子天线产生电场的场强值，所述场强值用来与预设场强值进行比较确定校准因子。

在一个实施例中，所述偶极子天线包括多个定制型号的偶极子天线。

在一个实施例中，所述偶极子天线为多个Z轴偶极子天线。

在一个实施例中，所述偶极子天线为多个定制型号的偶极子天线和多个Z轴偶极子天线。

在一个实施例中，所述多个定制型号的偶极子天线的型号为CA900V3、CL900B、CA1750V2、CA2450V2、CA5500V3中的多个；

所述多个Z轴偶极子天线的型号为Z12、Z22、Z32中的多个。

在一个实施例中，所述信号源装置包括信号发生器、功率放大器和耦合器，其中，所述信号发生器与所述功率放大器的输入端连接，所述功率放大器的输出端与所述耦合器的输入端连接，所述耦合器的输出端与所述偶极子天线连接；

所述信号发生器用于：产生电磁波信号；

所述功率放大器用于：对电磁波信号的功率进行放大处理；

所述耦合器用于：对经过功率放大处理的电磁波信号在前向端口和反向端口进行监控，获得偏差数据，所述偏差数据用于校准因子的计算。

在一个实施例中，所述信号源装置还包括两个功率计，其中第一功率计与所述耦合器的前向端口连接，第二功率计与所述耦合器的反向端口连接；

所述第一功率计用于：记录所述电磁波信号在耦合器前向端口的实际功率；

所述第二功率计用于：记录所述电磁波信号在耦合器反向端口的实际功率。