[实用新型]地磁传感器件有效

专利信息
申请号: 201821771128.8 申请日: 2018-10-30
公开(公告)号: CN209065410U 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 孙伟;刘琛;高周妙;罗燕飞;闻永祥 申请(专利权)人: 杭州士兰集成电路有限公司;杭州士兰微电子股份有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81C1/00;G01R33/00;G01R33/09
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯
地址: 310018 浙江省杭州市杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 传感器 第二导电层 第一导电层 结构层 处理传感器 磁传感器件 驱动传感器 检测信号 金属连线 传感器连接 地磁传感器 短路电极 外部电路 电连接 磁阻 申请
【权利要求书】:

1.一种地磁传感器件,包括:

CMOS电路;以及

传感器,位于在所述CMOS电路上,所述CMOS电路与所述传感器连接,用于驱动所述传感器和处理所述传感器产生的检测信号,

其中,所述传感器包括:

结构层;

依次在所述结构层上形成磁阻条、短路电极以及金属连线;以及

第一导电层与第二导电层,位于所述结构层上方,所述第一导电层分别与所述CMOS电路以及所述金属连线相连,所述第二导电层分别与所述CMOS电路以及外部电路相连。

2.根据权利要求1所述的地磁传感器件,其中,所述结构层中具有凹槽,所述凹槽具有倾斜的侧壁。

3.根据权利要求2所述的地磁传感器件,其中,所述结构层包括:在所述CMOS电路上依次沉积的多层二氧化硅。

4.根据权利要求3所述的地磁传感器件,其中,所述结构层的密度沿纵向方向呈梯度分布,所述结构层的厚度大于等于预设值。

5.根据权利要求3所述的地磁传感器件,其中,所述倾斜侧壁的倾斜角度包括30°至60°。

6.根据权利要求3所述的地磁传感器件,其中,所述磁阻条包括:

X轴磁阻条,位于所述结构层的平面区域;

Y轴磁阻条,位于所述结构层的平面区域;以及

Z轴磁阻条,位于所述侧壁。

7.根据权利要求1所述的地磁传感器件,其中,所述短路电极与所述金属连线位于所述磁阻条上方。

8.根据权利要求7所述的地磁传感器件,其中,所述短路电极与所述磁阻条呈预设夹角,所述预设夹角包括45°。

9.根据权利要求1所述的地磁传感器件,其中,所述传感器还包括介质层,所述介质层覆盖所述结构层、所述磁阻条、所述短路电极以及所述金属连线。

10.根据权利要求9所述的地磁传感器件,其中,所述CMOS电路的表面具有第一焊垫与第二焊垫,

所述第一导电层穿过所述介质层、所述结构层与所述第一焊垫连接,所述第二导电层穿过所述介质层、所述结构层与所述第二焊垫连接。

11.根据权利要求9所述的地磁传感器件,其中,所述介质层具有通孔,

所述第一导电层与所述金属连线通过所述通孔相连。

12.根据权利要求1所述的地磁传感器件,其中,所述传感器还包括钝化层,其具有开口,所述钝化层覆盖所述第一导电层与所述第二导电层,

至少部分所述第二导电层通过所述开口暴露。

13.根据权利要求2所述的地磁传感器件,其中,所述凹槽呈倒置的梯形。

14.根据权利要求1所述的地磁传感器件,其中,所述磁阻条包括:

在所述结构层上依次形成的钛层、坡莫合金层以及氮化钛层,或者在所述结构层上依次形成的钽层、坡莫合金层以及氮化钽层。

15.根据权利要求1-14任一所述的地磁传感器件,其中,所述第一导电层与所述第二导电层均包括连接部,

所述第一导电层的连接部分别与所述CMOS电路以及所述金属连线相连,

所述第二导电层的连接部分别与所述CMOS电路以及所述外部电路相连。

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