[实用新型]光学式瑕疵检测系统有效
申请号: | 201821746043.4 | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN209363041U | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 陈文生;李彦志;杞美瑜 | 申请(专利权)人: | 联策科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 翟国明 |
地址: | 中国台湾桃园*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测物 摆放系统 检测结果 目标区域 一次性 瑕疵检测系统 处理单元 待检测物 相邻排列 光学式 摆放 下料 检测 影像 影像拍摄系统 本实用新型 下料区 料区 上料 承载 拍摄 移动 | ||
本实用新型提供一种光学式瑕疵检测系统,包含至少一平台,用以承载多个待检测物;一上料摆放系统,将多个待检测物一次性摆放至该平台;一影像拍摄系统,依序拍摄该等待检测物的多个检测影像;一处理单元,接收该等检测影像,以检测出该等待检测物的检测结果;以及一下料摆放系统,从该平台一次性拾起该等待检测物,以摆放至一下料区;该下料区包含多个区域,该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合,该处理单元根据该等待检测物的检测结果,以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域,而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果,使该下料摆放系统将该等待检测物一次性摆放至该等目标区域。
技术领域
本实用新型涉及一种光学式瑕疵检测系统,更明确地说明,本实用新型是一种包含一下料摆放系统的光学式瑕疵检测系统,该下料摆放系统依多个待检测物的疵检检测结果,可从检测平台一次性拾起该等待检测物且分类地将该等待检测物一次性摆放至一下料区。
背景技术
如图1、2所示,分别显示公知光学式瑕疵检测系统的系统架构图与系统方块图。公知光学式瑕疵检测系统包含一影像拍摄系统10,分别从平台L2、平台R3所承载的待检测物L5与待检测物R6拍摄检测影像,其中该平台L2、平台R3可分别被平台驱动机构4驱动在一往复方向上运动。该影像拍摄系统 10包括:一具有镜头12的相机11,该相机11定义一光路用以拍摄待检测物 L5与待检测物R6。该待检测物1以电路板为例,在其上可分布多个零件或其布线。此外,该影像拍摄系统10配置各种辅助光源与光学零件,用以让待检测物L5与待检测物R6的瑕疵与缺陷可以显现于检测影像。这些辅助光源与光学零件包含:一偏光镜13,配置于该相机11的光路以滤掉杂散光源;一分光镜14,配置于该相机1的光路;一正光源15,搭配该分光镜14以提供该待检测物的正光源供相机11拍摄取像;以及,一左侧光源17与一右侧光源 16,从旁提供待检测物的拍摄辅助光。
此外,公知光学式瑕疵检测系统进一步包含一相机驱动机构18,该相机驱动机构18驱动该影像拍摄系统10在垂直该等平台2、3的往复方向上来回移动,使该影像拍摄系统10的该相机11分别对准待检测物L5与待检测物R6,以拍摄检测影像。
如图3a、3b所示,分别显示公知光学式瑕疵检测系统包含上料摆放系统与下料摆放系统的俯视图及示意图。知光学式瑕疵检测系统进一步包含一上料摆放系统30,配置一上料手臂L31与一上料手臂R32;以及,一下料摆放系统40,配置一下料手臂L41与一下料手臂R42。上料摆放系统30的该上料手臂L31与上料手臂R32可从上料区50中一次性拾起待检测物L5、待检测物R6,并将该上料手臂L31与上料手臂R32移动至该平台L2、平台R3的上方后,再一次性摆放待检测物L5、待检测物R6至该平台L2、平台R3上。
如图3a、3b所示,当该相机驱动机构18驱动该影像拍摄系统10的该相机对准待检测物L5后,平台驱动机构(图未示)驱动该平台L2在往复方向上移动。直到该平台L2移至虚线位置时,该相机即完成拍摄待检测物L5的检测影像;当该平台L2移回原来位置时,该相机驱动机构18将驱动该影像拍摄系统10的该相机对准待检测物R6。当该相机驱动机构18驱动该影像拍摄系统10的该相机对准待检测物R6后,平台驱动机构驱动该平台R3在往复方向上移动。直到该平台R3移至虚线位置时,该相机即完成拍摄待检测物R6的检测影像。
如图3a、3b所示,影像拍摄系统10拍摄的该等检测影像将用以判断待检测物L5、待检测物R6为OK件或NG件,其中,OK件表示该待检测物无瑕疵,NG件表示该待检测物存在瑕疵。虽然公知光学式瑕疵检测系统科一次量测多个待检测物,但从平台上将待检测物L5、待检测物R6移至一下料区 60的后,还是要依照检测影像的检测结果去分类出OK件与NG件。
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