[实用新型]光学式瑕疵检测系统有效
申请号: | 201821746043.4 | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN209363041U | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 陈文生;李彦志;杞美瑜 | 申请(专利权)人: | 联策科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36 |
代理公司: | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人: | 翟国明 |
地址: | 中国台湾桃园*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测物 摆放系统 检测结果 目标区域 一次性 瑕疵检测系统 处理单元 待检测物 相邻排列 光学式 摆放 下料 检测 影像 影像拍摄系统 本实用新型 下料区 料区 上料 承载 拍摄 移动 | ||
1.一种光学式瑕疵检测系统,包含:
至少一平台,用以承载多个待检测物;
一上料摆放系统,将多个待检测物一次性摆放至该平台;
一影像拍摄系统,依序拍摄该等待检测物的多个检测影像;
一处理单元,接收该等检测影像,以检测出该等待检测物的检测结果;以及
一下料摆放系统,从该平台一次性拾起该等待检测物,以摆放至一下料区;
其特征在于:
该下料区包含多个区域,该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合,该处理单元根据该等待检测物的检测结果,以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域,而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果,使该下料摆放系统将该等待检测物一次性摆放至该等目标区域。
2.如权利要求1所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该检测结果包含OK件,以表示该待检测物无瑕疵;以及NG件,以表示该待检测物存在瑕疵。
3.如权利要求2所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该平台承载2个待检测物,则该等区域的相邻排列为选自以下排列之一:OK区、OK区、NG区、NG区、OK区,NG区、NG区、OK区、OK区、NG区,NG区、OK区、OK区、NG区、NG区以及OK区、NG区、NG区、OK区、OK区,其中该OK区用以摆放OK件,该NG区用以摆放NG件。
4.如权利要求2所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该平台承载2个待检测物,则该处理单元检测出2个待检测物的所有检测结果的组合包含:OK件、OK件,NG件、NG件,OK件、NG件以及NG件、OK件。
5.如权利要求2所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该平台承载2个待检测物,则该2个目标区域的相邻排列包含:OK区、OK区,NG区、NG区,OK区、NG区以及NG区、OK区,其中该OK区用以摆放OK件,该NG区用以摆放NG件。
6.一种光学式瑕疵检测系统,包含:至少一平台,用以承载多个待检测物;一影像拍摄系统,依序拍摄该等待检测物的多个检测影像;一下料摆放系统以及,一处理单元,接收该等检测影像,以检测出该等待检测物的检测结果;
其特征在于:
该下料摆放系统包含多个下料手臂,该等下料手臂从该平台一次性拾起该等待检测物,以摆放至一下料区;其中,该下料区包含多个区域,该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合。
7.如权利要求6所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该处理单元根据该等待检测物的检测结果,以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域,而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果,使该下料摆放系统将该等待检测物一次性摆放至该等目标区域。
8.如权利要求6所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该检测结果包含OK件,以表示该待检测物无瑕疵;以及NG件,以表示该待检测物存在瑕疵。
9.如权利要求8所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该平台承载2个待检测物,则该等区域的相邻排列为选自以下排列之一:OK区、OK区、NG区、NG区、OK区,NG区、NG区、OK区、OK区、NG区,NG区、OK区、OK区、NG区、NG区以及OK区、NG区、NG区、OK区、OK区,其中该OK区用以摆放OK件,该NG区用以摆放NG件。
10.如权利要求8所述的光学式瑕疵检测系统,其特征在于,该平台承载2个待检测物,则该处理单元检测出2个待检测物的所有检测结果的组合包含:OK件、OK件,NG件、NG件,OK件、NG件以及NG件、OK件。
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